[发明专利]光电耦合器性能测试方法、系统、电子设备及存储介质

说明书

本申请揭示一种光电耦合器性能测试方法、测试系统、电子设备及计算机可读存储介质，该方案首先对光电耦合器的输入端施加逐渐增大的输入电压，基于光电耦合器的输出端的响应电压确定光电耦合器的工作电压，再对光电耦合器的输入端施加所确定的工作电压，从而进一步获得其他性能参数，例如导通响应时间、关断响应时间、响应电压稳定性等，实现了对光电耦合器的工作电压等性能参数的测试，以进一步评估光电耦合器是否合格；且，本申请在所确定的光电耦合器的工作电压下进行其他性能参数的测试，测试结果准确性更高。

技术领域

本申请涉及光电耦合器测试技术领域，特别涉及一种光电耦合器性能测试方法、系统、电子设备及存储介质。

背景技术

光电耦合器是以光为媒介来传输电信号的器件，通常把发光器与受光器封装在同一管壳内。当输入端施加相应的电信号时发光器发出光线，受光器接受光线之后产生光电流，从输出端流出，从而实现了“电—光—电”转换。

随着光电耦合器的广泛应用，对其可靠性的要求也越来越高，因此对光电耦合器的关键参数，例如，工作电压、响应速度、响应电压稳定性等的测量技术就变得尤为重要。

发明内容

为了实现对光电耦合器的测试，本申请提供了一种光电耦合器性能测试方法、光电耦合器性能测试系统、电子设备及计算机可读存储介质。

根据本申请实施例的一方面，公开了一种光电耦合器性能测试方法，所述光电耦合器性能测试方法包括：

对光电耦合器的输入端施加逐渐增大的输入电压，获取所述光电耦合器的输出端的响应电压，并基于所述响应电压确定所述光电耦合器的工作电压；

对所述光电耦合器的输入端施加所述工作电压，以获得所述光电耦合器的导通响应时间、关断响应时间以及响应电压稳定性中的至少一者。

在一种示例性实施例中，所述对所述光电耦合器的输入端施加所述工作电压，以获得所述光电耦合器的导通响应时间、关断响应时间以及响应电压稳定性中的至少一者，包括：

对所述光电耦合器的输入端施加所述工作电压，获取所述光电耦合器的输出端的响应电压上升至第一电压所需的响应时间，作为导通响应时间；和/或，

对所述光电耦合器的输入端施加所述工作电压的情况下，在所述光电耦合器的输出端的响应电压达到额定输出电压值预设时间之后，停止对所述光电耦合器的输入端施加所述工作电压，并获取所述光电耦合器的输出端的响应电压下降至第二电压所需的响应时间，作为关断响应时间；和/或，

对所述光电耦合器的输入端施加所述工作电压的情况下，在所述光电耦合器的输出端的响应电压达到所述额定输出电压值后，获取所述光电耦合器的输出端在多个时刻的响应电压，基于所述多个时刻的响应电压确定所述光电耦合器的响应电压稳定性。

在一种示例性实施例中，所述基于所述多个时刻的响应电压确定所述光电耦合器的响应电压稳定性，包括：

获取所述多个时刻的响应电压的方差；

基于所述方差确定所述光电耦合器的响应电压稳定性。

在一种示例性实施例中，所述工作电压为所述光电耦合器的输出端的两响应电压之间的差值与所述两响应电压对应的输入电压差值的比值下降至tan40°时的输入电压；和/或，所述第一电压为所述光电耦合器的输出端两响应电压之间的差值与所述两响应电压对应的采样时间差值的比值下降至tan10°时的响应电压；和/或，所述第二电压为零。

在一种示例性实施例中，所述光电耦合器性能测试方法还包括：

绘制表征所述光电耦合器的输出端的响应电压随所述逐渐增大的输入电压变化的电压曲线；和/或，

绘制对所述光电耦合器的输入端施加所述工作电压时所述光电耦合器的输出端的响应电压随时间变化的电压曲线；和/或，