[发明专利]光电耦合器性能测试方法、系统、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种光电耦合器性能测试方法，其特征在于，包括：

对光电耦合器的输入端施加逐渐增大的输入电压，获取所述光电耦合器的输出端的响应电压，并基于所述响应电压确定所述光电耦合器的工作电压；

对所述光电耦合器的输入端施加所述工作电压，以获得所述光电耦合器的导通响应时间、关断响应时间以及响应电压稳定性中的至少一者。

2.根据权利要求1所述的光电耦合器性能测试方法，其特征在于，所述对所述光电耦合器的输入端施加所述工作电压，以获得所述光电耦合器的导通响应时间、关断响应时间以及响应电压稳定性中的至少一者，包括：

对所述光电耦合器的输入端施加所述工作电压，获取所述光电耦合器的输出端的响应电压上升至第一电压所需的响应时间，作为导通响应时间；和/或，

对所述光电耦合器的输入端施加所述工作电压的情况下，在所述光电耦合器的输出端的响应电压达到额定输出电压值预设时间之后，停止对所述光电耦合器的输入端施加所述工作电压，并获取所述光电耦合器的输出端的响应电压下降至第二电压所需的响应时间，作为关断响应时间；和/或，

对所述光电耦合器的输入端施加所述工作电压的情况下，在所述光电耦合器的输出端的响应电压达到所述额定输出电压值后，获取所述光电耦合器的输出端在多个时刻的响应电压，基于所述多个时刻的响应电压确定所述光电耦合器的响应电压稳定性。

3.根据权利要求2所述的光电耦合器性能测试方法，其特征在于，所述基于所述多个时刻的响应电压确定所述光电耦合器的响应电压稳定性，包括：

获取所述多个时刻的响应电压的方差；

基于所述方差确定所述光电耦合器的响应电压稳定性。

4.根据权利要求2所述的光电耦合器性能测试方法，其特征在于，所述工作电压为所述光电耦合器的输出端的两响应电压之间的差值与所述两响应电压对应的输入电压差值的比值下降至tan40°时的输入电压；

和/或，

所述第一电压为所述光电耦合器的输出端两响应电压之间的差值与所述两响应电压对应的采样时间差值的比值下降至tan10°时的响应电压；

和/或，

所述第二电压为零。

5.根据权利要求2所述的光电耦合器性能测试方法，其特征在于，还包括：

绘制表征所述光电耦合器的输出端的响应电压随所述逐渐增大的输入电压变化的电压曲线；

和/或，

绘制对所述光电耦合器的输入端施加所述工作电压时所述光电耦合器的输出端的响应电压随时间变化的电压曲线；

和/或，

绘制停止对所述光电耦合器的输入端施加所述工作电压的情况下所述光电耦合器的输出端的响应电压随时间变化的电压曲线。

6.一种光电耦合器性能测试系统，其特征在于，包括：

测试座，用于连接光电耦合器；

主控模块，电连接所述测试座，被配置为执行如权利要求1至5任一项所述的光电耦合器性能测试方法。

7.根据权利要求6所述的光电耦合器性能测试系统，其特征在于，所述测试座包括：

座体；

设置在所述座体的多个测试单元，所述测试单元具有第一输入连接端子、第二输入连接端子、第一输出连接端子以及第二输出连接端子，所述第一输入连接端子电连接所述主控模块，所述第二输入连接端子串联第一电阻，所述第一电阻的另一端接地，所述第一输出连接端子串联第二电阻，所述第二电阻的另一端接电源，所述第二输出连接端子电连接所述主控模块。