[发明专利]一种器件芯片中凹槽及间隙的加工方法在审

专利信息
申请号: 202310283896.8 申请日: 2022-12-07
公开(公告)号: CN116216629A 公开(公告)日: 2023-06-06
发明(设计)人: 雷永庆;谢国伟;李明 申请(专利权)人: 麦斯塔微电子(深圳)有限公司
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00;B81B7/00;B81B7/02
代理公司: 深圳汉林汇融知识产权代理事务所(普通合伙) 44850 代理人: 吴洪波
地址: 518000 广东省深圳市福田区梅林街*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 器件 芯片 凹槽 间隙 加工 方法
【权利要求书】:

1.一种器件芯片中凹槽及间隙的加工方法,其特征在于,所述器件芯片包括:基衬底、盖衬底以及器件层,其中,所述盖衬底与所述基衬底间隔设置,所述器件层设置在所述基衬底和所述盖衬底之间;所述器件层包括电极、连接部以及致动部,所述连接部分别与所述基衬底和所述盖衬底固定连接,所述电极与所述基衬底固定连接并与所述盖衬底电连接,所述致动部与所述连接部耦合;所述致动部与所述电极之间设置有间隙,以使所述致动部和所述电极之间形成电容;所述电极用于接收电信号,并根据所述电信号驱动所述致动部;所述电极上设置有凹槽,所述凹槽沿所述电极的厚度方向延伸,且所述凹槽的开口朝向所述盖衬底;

所述凹槽及间隙一次成型,其加工方法如下:

根据所述器件层的厚度设计凹槽和间隙的宽度,其中,所述间隙的宽度大于所述凹槽的宽度;所述凹槽的宽度在0.7~2.0um之间,所述间隙的宽度在1~3um之间;

在器件层的晶圆上涂覆凹槽光刻胶;

进行DRIE刻蚀。

2.一种器件芯片中凹槽及间隙的加工方法,其特征在于,所述器件芯片包括:基衬底、盖衬底以及器件层,其中,所述盖衬底与所述基衬底间隔设置,所述器件层设置在所述基衬底和所述盖衬底之间;所述器件层包括电极、连接部以及致动部,所述连接部分别与所述基衬底和所述盖衬底固定连接,所述电极与所述基衬底固定连接并与所述盖衬底电连接,所述致动部与所述连接部耦合;所述致动部与所述电极之间设置有间隙,以使所述致动部和所述电极之间形成电容;所述电极用于接收电信号,并根据所述电信号驱动所述致动部;所述电极上设置有凹槽,所述凹槽沿所述电极的厚度方向延伸,且所述凹槽的开口朝向所述盖衬底;

所述凹槽及间隙分别加工成型,其加工方法如下:

在所述器件层的晶圆上涂覆凹槽光刻胶;

进行所述凹槽的刻蚀,其中,所述凹槽的宽度在0.7~2.0um之间,刻蚀16um深度;

冲洗掉所述凹槽光刻胶;

在刻蚀出所述凹槽的晶圆上再次涂覆间隙光刻胶;

进行所述间隙的刻蚀,其中,所述间隙的宽度大于所述凹槽的宽度,所述间隙的宽度在1~3um之间,将晶圆刻穿。

3.如权利要求1或2所述的加工方法,其特征在于,所述凹槽的宽度为0.8um,所述间隙的宽度为3um。

4.如权利要求1或2所述的加工方法,其特征在于,所述基衬底和盖衬底为硅基衬底。

5.如权利要求1或2所述的加工方法,其特征在于,所述器件层的材质为单晶硅。

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