[发明专利]一种光标位置的调整方法、装置及设备在审

专利信息
申请号: 202310267178.1 申请日: 2023-03-14
公开(公告)号: CN116337242A 公开(公告)日: 2023-06-27
发明(设计)人: 康乐;耿丹 申请(专利权)人: 杭州微影软件有限公司
主分类号: G01J5/54 分类号: G01J5/54;G01J5/48;G01J5/00
代理公司: 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 代理人: 董晓盈
地址: 310051 浙江省杭州市滨江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 光标 位置 调整 方法 装置 设备
【权利要求书】:

1.一种光标位置的调整方法,其特征在于,应用于热成像设备,所述热成像设备包括激光测距仪和热成像镜头,所述方法包括:

通过所述激光测距仪发射激光至目标物体,并采集所述目标物体对应的热成像图像,所述热成像图像包括所述激光测距仪对应的激光光标;

基于所述热成像镜头对应的已标定参数、所述激光测距仪与所述热成像镜头之间的位置信息,确定所述激光光标在热成像图像中的目标偏移量;

基于所述目标偏移量对所述激光光标的位置进行调整。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,

所述热成像镜头对应的已标定参数的确定过程,包括:

通过所述激光测距仪发射激光至样本物体,采集所述样本物体对应的热成像图像,所述热成像图像包括所述激光测距仪对应的激光光标;

通过调整激光光标的位置,以使调整后位置与所述样本物体在热成像图像中的位置重合,并基于所述激光光标的调整后位置确定所述激光光标的样本偏移量;基于所述样本偏移量确定所述热成像镜头对应的已标定参数。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,

所述已标定参数包括所述样本偏移量、所述样本物体在第二光轴上的投影点与所述热成像镜头之间的样本距离;或者,所述已标定参数包括所述激光测距仪的第一光轴与所述热成像镜头的第二光轴之间的偏移角度;若所述已标定参数包括所述激光测距仪的第一光轴与所述热成像镜头的第二光轴之间的偏移角度,所述基于所述样本偏移量确定所述热成像镜头对应的已标定参数,包括:

基于所述样本偏移量、所述样本物体在第二光轴上的投影点与所述热成像镜头之间的样本距离、所述热成像镜头的焦距,所述激光测距仪与所述热成像镜头之间的位置信息,确定所述第一光轴与所述第二光轴之间的所述偏移角度。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述基于所述样本偏移量、所述样本物体在第二光轴上的投影点与所述热成像镜头之间的样本距离、所述热成像镜头的焦距,所述激光测距仪与所述热成像镜头之间的位置信息,确定所述第一光轴与所述第二光轴之间的所述偏移角度,包括:

基于所述样本偏移量、所述样本距离、所述热成像镜头的焦距,确定所述样本物体与所述样本物体在第二光轴上的投影点之间的投影间距;

基于所述投影间距、所述激光测距仪与所述热成像镜头之间的位置信息、所述样本距离,确定所述第一光轴与所述第二光轴之间的所述偏移角度。

5.根据权利要求1-4任一项所述的方法,其特征在于,所述基于所述热成像镜头对应的已标定参数、所述激光测距仪与所述热成像镜头之间的位置信息,确定所述激光光标在热成像图像中的目标偏移量,包括:

基于所述热成像镜头对应的已标定参数、所述目标物体与所述激光测距仪之间的目标距离、所述热成像镜头的焦距、所述激光测距仪与所述热成像镜头之间的位置信息,确定所述激光光标在热成像图像中的目标偏移量。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,

若所述已标定参数包括所述激光测距仪的第一光轴与所述热成像镜头的第二光轴之间的偏移角度,则采用如下方式确定所述激光光标的目标偏移量:

基于所述激光测距仪与所述热成像镜头之间的位置信息、所述目标距离和所述偏移角度,确定所述目标物体与所述目标物体在所述第二光轴上的投影点之间的投影间距;

基于所述目标距离和所述偏移角度,确定所述目标物体在所述第二光轴上的投影点与所述热成像镜头之间的距离;

基于所述投影间距、所述目标物体在所述第二光轴上的投影点与所述热成像镜头之间的距离、所述热成像镜头的焦距,确定所述激光光标的目标偏移量。

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