[发明专利]一种液晶显示屏微划伤瑕疵3D检测方法、系统及计算设备

权利要求书

1.一种液晶显示屏微划伤瑕疵3D检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、产品位置校正：利用1个相机对液晶显示屏的一个拐角进行拍照取图，获取图像后，计算角度偏差，使得放置产品时，产品边缘与治具的参考线齐平；

S2、数据获取：利用3D激光传感器按指定轨迹对液晶显示屏进行全屏扫描，将点云数据转化为若干深度图像，将多次扫描得到的若干深度图像拼接成一个完整的大图，即获取拼接后深度图像；

S3、缺陷检测：以指定区域大小遍历整个步骤S2中获取的拼接后深度图像，对液晶显示屏的微小划伤种缺陷开始进行初步检测，并以此区域大小作为ROI区域，裁剪ROI区域的深度图像进行平面拟合，将拼接后深度图像减去平面拟合后的图，得到ROI区域平面校正后的差图；

S4、消除段差：通过阈值分割，将ROI区域平面校正后的差图内的图像分割成多个矩形区域的图像，并将各个矩形区域的图像进行平面拟合，获取差图C，对差图C存在段差处进行分割，并计算段差数值，根据段差数值调整像素深度，并重新拼接、拟合，获取差图c；

S5、图像处理：通过空间域转到频域，在频域中进行图像滤波过滤掉背景纹理，保留微划伤瑕疵缺陷；

S6、微划伤瑕疵缺陷检测：在过滤掉的背景纹理的频域深度图像中，根据检测标准对微划伤瑕疵缺陷进行检测，采用深度阈值方式进行过滤，计算深度均值、深度方差、深度离散程度，以此过滤无关区域，保留深度低于平均值的区域；

S7、获取检测结果：对于保留的各个区域，进行膨胀操作，再进行直线检测，获取微划伤瑕疵检测效果图，并输出缺陷的所在深度的横截面深度波形图；

S8、输出检测结果：根据S7中输出的微划伤瑕疵检测效果图和横截面深度波形图判断其为OK或NG，并记录；

步骤S4中，差图C的获取方法包括：将ROI区域平面校正后的差图内的图像分割成多个矩形区域的图像，获得各个矩形区域的深度图像A并进行平面拟合，得到平面拟合图B，将深度图像A减去平面拟合图B后，得到平面校正后的差图C，对差图C存在段差处进行分割，并计算段差数值，根据段差数值调整像素深度，并重新拼接、拟合，获取差图c；

步骤S4中，段差数值的计算方法包括：在差图C上操作，沿段差处将其分割断开得到图像A1和图像A2；分别获取分割断开的图像A1、图像A2上1个像素区域的平均深度a_Depth和b_Depth，计算高度差Diff= a_Depth-b_Depth；

图像A1上获取的1个像素区域与图像A2上获取的1个像素区域相邻；

步骤S4中根据段差数值调整像素深度，并重新拼接、拟合，获取差图c的方法包括将图像A2中每个的像素深度加上高度差Diff，得到新的图像A2new，将图像A1与图像A2new拼接成新的深度图像a，再进行平面拟合，获得平面拟合图b，将深度图像a减去平面拟合图b，得到平面校正后的差图c，通过以上处理使得段差消失。

2.根据权利要求1所述的一种液晶显示屏微划伤瑕疵3D检测方法，其特征在于，微划伤瑕疵包括缺陷深度长度≥10μm、宽度≥10μm、深度＞1μm的缺陷。

3.根据权利要求1所述的一种液晶显示屏微划伤瑕疵3D检测方法，其特征在于，步骤S3中指定区域的大小为5mm*5mm~10mm*10mm；ROI区域的大小与该指定区域的大小相同。

4.根据权利要求1所述的一种液晶显示屏微划伤瑕疵3D检测方法，其特征在于，步骤S5中，过滤掉背景纹理的具体方法包括：在空间域中深度图像竖直方向和水平方向都存在背景纹理，竖直和水平方向的纹理特征在频域中属于高频信息，对图像进行快速傅里叶变换以获得其频谱，在频谱中检测干扰背景纹理对应的频率峰值，在频域中建立十字架状的滤波器滤除频率，并应用于频谱。