[发明专利]一种总剂量通用试验系统及方法

说明书

一种总剂量通用试验系统及方法，系统包括试验架、电源和PC机；试验架包括可移动卡槽、第一线缆接口、可拆式电压表、第二线缆接口、轨道；可移动卡槽安装在轨道上，可移动卡槽承载待测试验板，可移动卡槽能够沿轨道移动；第一线缆接口位于可移动卡槽远离辐射源的一端，第一线缆接口与待测试验板的供电线缆相连；第二线缆接口通过电源线缆与电源相连；在第一线缆接口与第二线缆接口之间连接线缆；可拆式电压表并联在第一线缆接口与第二线缆接口之间；PC机控制电源的输出电压，并监控电源线缆的电流、记录电流数据并生成电流曲线。本发明试验系统体积小、通用性强、效率高、可靠性高、使用成本低。

技术领域

本发明属于宇航半导体器件技术领域，本发明特别涉及一种总剂量通用试验系统及方法。

背景技术

工作于太空中的电子器件不可避免的会遭受各种宇宙射线和高能粒子的电离辐射影响，引起性能退化而给航天器的可靠性带来重大隐患，电离辐射总剂量效应成为不可忽视的损伤因素，因此需要对电子器件进行总剂量辐照试验。为了保障器件在太空中的正常工作，所有器件均采用最恶劣的偏置下进行辐照试验，因此需要针对不同器件设计不同偏置的试验板。

目前国内对于总剂量试验，大多数是通过铜柱固定待测试验板，此做法既不稳固也不安全，部分试验场地的试验操作台是金属台，待测试验板通过铜柱固定在金属台上，很容易发生导电致使器件短路；电源在控制室给待测试验板供电，线缆过长，会产生压降，误差较大；试验过程中记录试验数据大多数都是人工记录，不够精确。

中国专利文献CN 106646177 A，公开日2017年5月10日，名称为“一种宇航用半导体器件总剂量辐照试验通用偏置电路板”中公开了一种总剂量辐照试验通用偏置电路板，通过分别调试子板和母板来实现不同封装、不同偏置的器件的试验，虽然该电路板的子板可拆卸，但母板体积还是较大，不便于携带；且无法满足不同剂量率同时试验的需求。

发明内容

为克服现有技术的不足，本发明提供了一种总剂量通用试验系统及方法，用于解决宇航电子器件辐照总剂量试验中试验操作台固定，试验板不稳固，待测器件移动不灵活，接口匹配通用性不足，待测器件的供电电缆过长以致供电电压难以被检测及调节以及批量试验效率低的问题，其具有高可靠性、通用性强、高效率、便携式、低成本、可以重复性使用的特点。

本发明提出一种总剂量通用试验系统，包括试验架、电源和PC机；

所述试验架包括可移动卡槽、第一线缆接口、可拆式电压表、第二线缆接口、轨道；试验架上安装轨道，可移动卡槽安装在轨道上，可移动卡槽承载待测试验板，可移动卡槽能够沿轨道移动；

第一线缆接口位于可移动卡槽远离辐射源的一端，第一线缆接口与待测试验板的供电线缆相连；第二线缆接口通过电源线缆与电源相连；在第一线缆接口与第二线缆接口之间连接线缆；

可拆式电压表并联在第一线缆接口与第二线缆接口之间；

PC机控制电源的输出电压，并监控电源线缆的电流、实时记录电流数据并生成电流曲线。

进一步的，所述轨道上具有标尺。

进一步的，所述试验架位于辐照室内，所述电源和PC机位于辐照室外部。

进一步的，所述待测试验板竖直插入可移动卡槽中，所述可移动卡槽由绝缘材料制备。

进一步的，在试验开始前，所述可拆式电压表并联在第一线缆接口与第二线缆接口之间，用于检测电源对试验板的供电电压是否达到试验要求的电压值，当供电电压达到试验要求电压值后拆下可拆式电压表后进行试验。

进一步的，所述待测试验板的规格与待测器件的封装模式向配合。

进一步的，所述试验架为单层或多层，同一试验架能够安装1个或多个待测试验板；所述试验系统包括1个或多个试验架，当数量为多个时，试验架沿放射源的圆周向均匀分布。