[发明专利]一种全检PTC排片设备在审

专利信息
申请号: 202310158557.7 申请日: 2023-02-23
公开(公告)号: CN116329101A 公开(公告)日: 2023-06-27
发明(设计)人: 冯卫;徐伟;付梅燕 申请(专利权)人: 上海帕克热敏陶瓷有限公司
主分类号: B07C5/00 分类号: B07C5/00;B07C5/04;B07C5/34;B07C5/344;B07C5/36;B07C5/38;B07C5/02
代理公司: 上海维卓专利代理有限公司 31409 代理人: 王晨
地址: 201800*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 ptc 设备
【权利要求书】:

1.一种全检PTC排片设备,其特征在于:包括

料仓模组(1),存储待检测的PTC陶瓷发热元件(100);

检测模组(2),对PTC陶瓷发热元件(100)的强度、厚度、电阻以及外观参数进行检测;

不良品收纳模组(3),对所述检测模组(2)检测不合格的PTC陶瓷发热元件(100)进行转运隔离;

取料模组(4),用于将所述料仓模组(1)内存储的PTC陶瓷发热元件(100)移运至所述检测模组(2),将所述检测模组(2)检测不合格的PTC陶瓷发热元件(100)移运至所述不良品收纳模组(3);

缓存模组(5),用于对所述检测模组(2)检测完成的PTC陶瓷发热元件(100)进行排片;

上下料位移模组(6),用于将所述检测模组(2)检测完成的PTC陶瓷发热元件(100)移运至缓存模组(5);

整形模组(7),对所述缓存模组(5)排片完成的PTC陶瓷发热元件(100)进行二次整形定位;

组装模组(8),用于将所述二次整形模组(7)排片完成的PTC陶瓷发热元件(100)进行装盘;

整形组装位移模组(9),用于将所述缓存模组(5)排片完成的PTC陶瓷发热元件(100)移运至所述整形模组(7),用于将所述整形模组(7)整形定位完成的PTC陶瓷发热元件(100)移运至所述组装模组(8);

机架(10),料仓模组(1)、检测模组(2)、不良品收纳模组(3)、取料模组(4)、缓存模组(5)、上下料位移模组(6)、整形模组(7)、组装模组(8)以及整形组装位移模组(9)均固定安装在所述机架(10)上。

2.根据权利要求1所述的一种全检PTC排片设备,其特征在于:所述料仓模组(1)包括储料组件(11)以及顶升组件(12);

所述储料组件(11)包括固定安装在所述机架(10)上的储料座(111)以及可拆卸安装在所述储料座(111)上的储料挡板(112),所述储料座(111)与所述储料挡板(112)之间开设形成有至少一排PTC陶瓷发热元件安装槽(113),所述PTC陶瓷发热元件(100)按排片表的顺序堆叠置于所述PTC陶瓷发热元件安装槽(113)内;

所述顶升组件(12)包括固定安装在所述机架(10)上的顶升支架(121)、固定安装在所述顶升支架(121)上的顶升驱动件(122)、转动安装在所述顶升支架(121)上的顶升丝杆(123)、螺纹配合安装在所述顶升丝杆(123)上的至少一个PTC陶瓷发热元件顶杆(124)以及固定安装在所述顶升支架(121)上的顶升导向杆(125),所述顶升丝杆(123)与所述顶升驱动件(122)传动连接,所述PTC陶瓷发热元件顶杆(124)与所述顶升导向杆(125)滑移配合,所述PTC陶瓷发热元件顶杆(124)滑移穿设在所述PTC陶瓷发热元件安装槽(113)内。

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