[发明专利]一种大芯径保偏光纤消光比测试装置

说明书

本发明公开了一种大芯径保偏光纤的偏振消光比测试装置，其特征在于，包括：非相干偏振光源、保偏模场适配器、聚焦耦合系统、包层光滤除器、准直镜、检偏器、功率计；所述非相干偏振光源输出高质量的非相干保偏线偏振光，通过保偏模场适配器后经聚焦耦合系统进入待测的大芯径保偏光纤，在包层光滤除器的作用下出射，经准直器输出能量集中在纤芯的保偏平行光，经过检偏器后进入功率计。本发明采用非相干光源作为测试光源，从而减少模式之间的耦合，同时采用模场适配器控制完全偏振信号光的模式为基模状态输入，同时匹配模场，减小高阶模式的分量，从而协同减少了不同模式间的相干叠加，从而稳定不同偏振态下的功率测试结果，使消光比测试结果稳定而准确，一致性高。

技术领域

本发明涉及光纤测试技术领域，尤其涉及一种大芯径保偏光纤的偏振消光比测试装置。

背景技术

光纤激光器具有转换效率高、光束质量好、体积小、稳定可靠等优势，自20世纪80年代起稳步发展。超短脉冲光纤激光器作为激光器的重要一个分支，因其高的平均功率和单脉冲能量得以在精细加工领域迅猛发展。基于全保偏光纤器件的全光纤放大系统相较于非保偏光纤具有更好的偏振稳定性和更高的单脉冲能量，受外界干扰小。结合光纤激光器的小体积、高光束质量，工业激光用保偏光纤也拥有了广泛的应用前景。

偏振消光比描述了保偏光纤维持纤芯传输信号光偏振状态的能力，是衡量保偏光纤性能的关键指标之一。当前保偏光纤的测试系统大部分都是针对应用于光纤陀螺中的保偏光纤，该类保偏光纤尺寸偏细，包层结构简单。而应用于工业激光领域用的光纤，通常为双包层或多包层光纤，芯包尺寸较丰富，传输模式较为复杂，当前鲜有针对大芯径多包层保偏光纤的偏振消光比测试装置。

中国专利文献CN111830632A采用消光比检测系统，来保证大芯径保偏光纤的对轴熔接，通过线偏振光经过保偏光纤之后的功率进行消光比测定。其消光比测试原理即采用光功率记计算快轴和慢轴的光功率，装置较为简单。实践过程中发现，该装置在测试中出现光功率读数不稳定的现象，数据来回波动，不能稳定的显示快轴和慢轴的位置。

发明内容

针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本发明提供了一种大芯径保偏光纤的偏振消光比测试装置，其目的在于，通过非相干光源和模场适配器，分别降低信号光的相干性和高阶模式功率分量，协同减小模式见分量的想干叠加，从而稳定不同偏振态下的功率，减小和消除消光比测试结果波动，由此解决现有的大芯径保偏光纤消光比测试装置读数波动大、不稳定、准确性不佳的技术问题。

为实现上述目的，按照本发明的一个方面，提供了一种大芯径保偏光纤的偏振消光比测试装置，包括：非相干偏振光源、保偏模场适配器、聚焦耦合系统、包层光滤除器、准直镜、检偏器、功率计；

所述非相干偏振光源输出高质量的非相干保偏线偏振光，通过保偏模场适配器后经聚焦耦合系统进入待测的大芯径保偏光纤，在包层光滤除器的作用下出射，经准直器输出能量集中在纤芯的保偏平行光，经过检偏器后进入功率计。

优选地，所述大芯径保偏光纤的偏振消光比测试装置，其所述非相干偏振光源，其输出的光信号优选为恒定功率的完全偏振ASE光。

优选地，所述大芯径保偏光纤的偏振消光比测试装置，其所述非相干偏振光源的波长与所述待测大芯径保偏光纤的工作波长相匹配。

优选地，所述大芯径保偏光纤的偏振消光比测试装置，其当待测光纤为掺镱及相关无源匹配光纤时，选择中心波长为1060nm的ASE光源；

当待测光纤为掺铒及相关无源匹配光纤时，选择中心波长为1550nm的ASE光源；

当待测光纤为掺铥及相关无源匹配光纤时，选择中心波长为1920nm的ASE光源。

优选地，所述大芯径保偏光纤的偏振消光比测试装置，其所述模场适配器为保偏模场适配器，连接模场和光纤尺寸失配的光源及待测大芯径保偏光纤，输出端尾纤为与待测大芯径保偏光纤纤芯/包层尺寸一致地单包层保偏光纤。