[发明专利]一种CT图像伪影校正方法、系统及介质

权利要求书

1.一种CT图像伪影校正方法，其特征在于，方法步骤包括：

获取投影图像集，所述投影图像集为待测物体在不同角度下拍摄的投影图像；

在所述投影图像集中，选择任意一张投影图像，通过散射核函数对所述投影图像进行化处理，获得直穿投影数据，再通过硬化校正函数对所述直穿投影数据进行处理，获得映射投影数据，遍历所述投影图像集，获得若干映射投影数据；

基于若干所述映射投影数据，构建重建图像；

计算所述重建图像的信息熵，以所述信息熵最小为目标，计算所述散射核函数中的最优散射拟合参数以及所述硬化校正函数中的最优硬化拟合参数；

基于所述最优散射拟合参数对若干影数据进行散射校正，通过所述最优硬化拟合参数对若干所述直穿投影数据进行校正，并基于校正后的数据，构建所述待测物体的CT图像。

2.根据权利要求1所述的一种CT图像伪影校正方法，其特征在于，所述直穿投影数据获得的子步骤包括：

构建散射核函数模型，并初始化散射拟合参数，对所述投影图像进行迭代操作，获得直穿投影数据。

3.根据权利要求2所述的一种CT图像伪影校正方法，其特征在于，所述映射投影数据获得的子步骤包括：

构建硬化校正函数，并初始化硬化拟合参数，将所述直穿投影数据进行函数映射，获得所述映射投影数据。

4.根据权利要求1所述的一种CT图像伪影校正方法，其特征在于，所述重建图像的构建方法为：

对若干所述映射投影数据依次进行加权处理、滤波处理以及反投影处理，获得重建图像。

5.根据权利要求1～4任一所述的一种CT图像伪影校正方法，其特征在于，所述最优散射拟合参数以及所述最优硬化拟合参数具体计算的子步骤为：

以信息熵为目标函数，构建最优化参数求解模型；

采用迭代优化求解方法，求解获得最优散射拟合参数以及所述最优硬化拟合参数，所述迭代求解方法中，其收敛条件为：参数空间的最大距离小于等于设定的距离值，或迭代次数达到设定值。

6.根据权利要求5所述的一种CT图像伪影校正方法，其特征在于，在遍历所述投影图像集前，对所述投影图像集进行降采样处理，将所述投影图像集中的每张图像降采样为低分辨率图像。

7.一种CT图像伪影校正系统，其特征在于，包括图像获取模块、校正模块、图像重建模块、参数寻优模块以及优化重建模块；

所述图像获取模块，用于获取投影图像集，所述投影图像集为待测物体在不同角度下拍摄的投影图像；

所述校正模块，用于在所述投影图像集中，选择任意一张投影图像，通过散射核函数对所述投影图像进行化处理，获得直穿投影数据，再通过硬化校正函数对所述直穿投影数据进行处理，获得映射投影数据，遍历所述投影图像集，获得若干映射投影数据；

所述图像重建模块，用于基于若干所述映射投影数据，构建重建图像；

所述参数寻优模块，用于计算所述重建图像的信息熵，以所述信息熵最小为目标，计算所述散射核函数中的最优散射拟合参数以及所述硬化校正函数中的最优硬化拟合参数；

所述优化重建模块，用于基于所述最优散射拟合参数对若干投影数据进行散射校正，通过所述最优硬化拟合参数对若干所述直穿投影数据进行校正，并基于校正后的数据，构建所述待测物体的CT图像。

8.根据权利要求7所述的一种CT图像伪影校正系统，其特征在于，所述校正模块包括散射校正模块以及硬化校正模块；

所述散射校正模块，用于通过所述散射核函数对所述投影图像处理，获得直穿投影数据；

所述硬化校正模块，用于通过所述硬化校正函数对所述直穿投影数据进行处理，获得所述映射投影数据。