[发明专利]一种光模块Tx_Fault快速检测、上报及清除的方法

说明书

本发明公开了一种光模块Tx_Fault快速检测、上报及清除的方法，通过单独搭建一个Tx_fault检测电路，与光模块现有资源相配合来完成Tx_Fault检测、上报及清除，摆脱对于驱动芯片Tx_Fault检测功能的依赖性，同时需要更快的反应时间，以满足标准以及客户需求。摆脱了对于驱动芯片Tx_Fault检测功能的依赖性，同时摒弃过去用软件监控Tx_Fault状态时需要时间过长、无法满足标准及客户需求的弊端。通过监控MPD的电压状态，用比较器来判断光模块发射部分是否异常，同时配合MCU内部资源，通过硬件手段极大的缩短了Tx_Fault的检测、上报及清除所用时间。并提供多种资源替代方案，避免了单片机和驱动芯片资源不足或没有被充分利用的问题，拥有极大灵活性。

技术领域

本发明涉及光模块技术领域，更具体地说是一种光模块Tx_Fault快速检测、上报及清除的方法。

背景技术

1.按照标准要求，当光模块内部发射部分出现故障时，光模块需要在规定时间内迅速检测到故障并上报给主机，上报主机需要硬件方面和软件方面共同上报。其中硬件方面需要光模块内部Tx_Fault(发射关断)电信号通过金手指上报主机；软件方面需要通过I2C变更光模块寄存器中的Tx_Fault状态位来上报。当故障消失后需要对Tx_Fault状态及时清除，避免影响通信业务。

2.目前大部分做法是通过激光器驱动芯片内部自带的Tx_Fault检测功能来实现，这种方法在过去经常使用，但是随着光模块速率的提高，激光器驱动芯片内部复杂度提升，目前越来越多的芯片内部不再加入Tx_Fault检测功能。在这种情况下，很多人采用软件监测光模块内部状态，出现故障时再通过MCU进行硬件及软件Tx_Fault的上报，之后对于Tx_Fault的清除，有些通过软件手段来清除，有些只能通过模块重新上电来清除。这种Tx_Fault检测、上报及清除的方式时间很长，无法满足标准规定以及客户需求。

发明内容

目前同类的产品对于Tx_Fault检测、上报及清除的实现，主要依赖于激光器驱动芯片本身带有的Tx_Fault检测功能；或者通过软件监控光模块内部状态，出现故障时再通过MCU进行硬件及软件Tx_Fault的上报及处理。两种方式中前者对激光器驱动芯片要求有限制，一旦驱动芯片没有Tx_Fault检测功能，就只能采用后者的方式进行检测，但是后者主要靠软件处理，导致无法迅速上报及处理，无法满足标准及客户需求。

本专利目的是通过单独搭建一个Tx_fault检测电路，与光模块现有资源相配合来完成Tx_Fault检测、上报及清除，摆脱对于驱动芯片Tx_Fault检测功能的依赖性，同时需要更快的反应时间，以满足标准以及客户需求。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种光模块Tx_Fault快速检测、上报及清除的方法，其中：

A、检测方法为：将有Tx_Fault检测功能的激光器驱动芯片LD_Driver的Fault接到MCU的Driver_Fault；光模块发射部分故障时，激光器光功率会变小甚至无光，此时MPD的背光电流会瞬间减小，经过采样电阻的电压也会减小，当电压小于VREF时，比较器U1的输出电平为高电平，此高电平信号MCU_Fault即为检测到的光模块内部发射机的故障信号；

B、上报方法为：