[发明专利]一种光模块Tx_Fault快速检测、上报及清除的方法

权利要求书

1.一种光模块Tx_Fault快速检测、上报及清除的方法，其中：

A、检测方法为：将有Tx_Fault检测功能的激光器驱动芯片LD_Driver的Fault接到MCU的Driver_Fault；光模块发射部分故障时，激光器光功率会变小甚至无光，此时MPD的背光电流会瞬间减小，经过采样电阻的电压也会减小，当电压小于VREF时，比较器U1的输出电平为高电平，此高电平信号MCU_Fault即为检测到的光模块内部发射机的故障信号；

B、上报方法为：

在MCU内部，Driver_Fault和MCU_Fault接到逻辑门logic_3的输入，逻辑门logic_3的输出接到逻辑门logic_1的输入A1以及逻辑门logic_2的输入A2，硬件Tx_disable(发射关断)信号H_dis以及软件Tx_disable信号S_dis接到逻辑门logic_0的输入，主机信号host_signal接到逻辑门logic_1的输入B1，该主机信号可用于Tx_Fault的清除、锁存，比较器输出的高电平信号MCU_Fault接到逻辑门logic_1的输入A1以及逻辑门logic_2的输入A2，逻辑门logic_1的输出则接到MCU外部，与光模块金手指的Tx_Fault连接，同时逻辑门logic_0的输出Disable接到逻辑门logic_2的输入B2，逻辑门logic_2的输出接到MCU外部，与激光器驱动芯片的Driver_Dis信号相连接，用来关闭或者打开激光器；

当主机并没有给光模块Tx_disable命令时，硬件Tx_disable信号H_dis以及软件Tx_disable信号S_dis都为低，逻辑门logic_0的输出Disable也为低，此时当检测到激光器故障时，比较器U1的输出MCU_Fault或者LD_Driver的Driver_Fault变成高电平，逻辑门logic_3的输出Fault也会变为高，此时MCU中的Tx_Fault也会立刻变为高电平，上报给主机，同时使逻辑门logic_2的输出Driver_Dis信号变为高电平，关闭激光器以保护电路，同时，MCU检测到Tx_Fault变成高电平的时候，会立刻更改软件寄存器中关于Tx_Fault的状态为高，此为Tx_Fault的上报；

C、清除方法为：

当Tx_Fault信号出现的时候，可以通过主机信号host_signal来清除Tx_Fault。

2.根据权利要求1所述的一种光模块Tx_Fault快速检测、上报及清除的方法，其特征在于：检测方法中，可以用LD_Driver的Tx_Fault检测功能或外部搭建的Tx_Fault检测电路，或两种检测功能同时采用。

3.根据权利要求1所述的一种光模块Tx_Fault快速检测、上报及清除的方法，其特征在于：上报方法中，所述主机信号可以是客户要求的特定信号，也可以是设计者自定义。

4.根据权利要求1所述的一种光模块Tx_Fault快速检测、上报及清除的方法，其特征在于：清除具体方法如下：当检测到Tx_Fault信号的时候，主机可以通过发送特定的信号host_signal，当逻辑门logic_1检测到MCU_Fault以及host_signal信号为高时，逻辑门logic_1的输出Tx_Fault会立刻变为低电平，同时，MCU检测到Tx_Fault变成低电平的时候，会立刻更改软件寄存器中关于Tx_Fault的状态为低，此即Tx_Fault信号的清除；之后当故障解决，MCU_Fault变为低，主机向光模块发送打开激光器命令即硬件Tx_disable信号H_dis以及软件Tx_disable信号S_dis再次为低时，逻辑门logic_0的输出Disable为低，由于逻辑门logic_2的两个输入即逻辑门logic_0的输出Disable以及MCU_Fault都为低，因此逻辑门logic_2的输出为低，激光器重新打开，如果激光器打开之后，发射部分仍有故障，即比较器U1的输出MCU_Fault或者LD_Driver的Driver_Fault还是变为高电平，则重复上述Tx_Fault上报及清除过程。

5.根据权利要求1所述的一种光模块Tx_Fault快速检测、上报及清除的方法，其特征在于：当MCU的VDAC资源不足，无法提供VREF时，可以采用电阻分压方式提供VREF；此外，目前大部分MCU都集成有比较器，所以比较器部分电路，可以通过使用MCU自带的比较器，以此来节约布板空间，降低成本。