[发明专利]一种模拟集成电路对称约束的自动布局方法与装置

说明书

本发明公开了一种模拟集成电路对称约束的自动布局方法与装置，该方法包括：获取基于模拟集成电路的对称对序列数据，基于对称对序列数据中的约束模块构建序列对；利用模拟退火优化方法对序列对进行数据筛选，得到满足预设条件的序列对的筛选结果；根据筛选结果将满足预设条件的序列对进行还原操作，得到模拟集成电路的对称约束的部分布局结果；以及，基于预设的对称模式，利用满足预设条件的序列对和部分布局结果计算对称部分的布局结果，以得到模拟集成电路的对称约束的整体布局结果。本发明主要实现模拟集成电路的对称约束的自动布局，对于提高设计效率、缩短研发周期具有重要意义。

技术领域

本发明涉缺模拟集成电路版图自动化设计技术领域，特别是涉及一种模拟集成电路对称约束的自动布局方法与装置。

背景技术

当前模拟集成电路版图自动化设计程度远远低于数字集成电路，其版图设计目前仍主要依靠人工进行布局布线，效率低下，实现模拟集成电路版图设计自动化对提高模拟电路设计效率十分重要，自动布局算法是版图设计自动化的关键步骤之一。

针对模拟集成电路自动布局算法目前主要是借鉴于数字集成电路的自动布局算法，主要区别在于如何处理对称约束，目前基于启发式算法求解模拟集成电路自动布局算法的主要有两类：一是对对称序列对进行调整使得其满足对称约束，另一种则是在序列对表示生成的水平约束图和对称约束图添加对称约束边，然后判断是否满足对称约束。

对称可行序列对表示不一定能够得到对称布局，如图1所示，实验以水平轴上半部分进行模拟退火算法进行优化，得到布局结果L＝{(a,d,c),(a,c,d)}，转换为水平轴对称后的序列对表示为L＝{(a,d,e,c,b),(e,b,a,c,d)}，其中图1中a’和e’是实验预期的位置，但由于序列对只表示相对位置关系且向左下压缩，所以最终布局表示失去了对称性。现有的在解决对称约束时，通过将对称约束转换为约束边添加到水平约束图或垂直约束图，然后通过判断是否存在正数累计约束图来判断该布局是否满足对称性。以及，首先生成对称可行序列对，然后对序列对进行调整，得到满足对称布局的自动布局算法。

针对现有的方法时间复杂度高，判断约束图中任意两点是否存在正数累积环，需要时间复杂度O(n³)优化后仍高达O(n²)，而后者中可行序列对进行调整以满足对称性算法也需要O(n²)，两种算法为了满足对称性都需要O(n²)时间复杂度。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。

为此，提出一种模拟集成电路对称约束的自动布局方法。基于序列对的自动布局已可实现面积较小、线长较短、长宽比适当等特定约束下的布局。而本发明在其基础上可实现自动对称布局，提高模拟版图设计自动化程度。

本发明的第二方面在于提出一种模拟集成电路对称约束的自动布局装置。

为达上述目的，本发明一方面提出一种模拟集成电路对称约束的自动布局方法，包括：

获取基于模拟集成电路的对称对序列数据，基于所述对称对序列数据中的约束模块构建序列对；

利用模拟退火优化方法对所述序列对进行数据筛选，得到满足预设条件的序列对的筛选结果；

根据所述筛选结果将所述满足预设条件的序列对进行还原操作，得到模拟集成电路的对称约束的部分布局结果；以及，

基于预设的对称模式，利用所述满足预设条件的序列对和所述部分布局结果计算对称部分的布局结果，以得到模拟集成电路的对称约束的整体布局结果。

本发明实施的模拟集成电路对称约束的自动布局方法还可以具有以下附加技术特征：