[发明专利]一种模拟集成电路对称约束的自动布局方法与装置

权利要求书

1.一种模拟集成电路对称约束的自动布局方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取基于模拟集成电路的对称对序列数据，基于所述对称对序列数据中的约束模块构建序列对；

利用模拟退火优化方法对所述序列对进行数据筛选，得到满足预设条件的序列对的筛选结果；

根据所述筛选结果将所述满足预设条件的序列对进行还原操作，得到模拟集成电路的对称约束的部分布局结果；以及，

基于预设的对称模式，利用所述满足预设条件的序列对和所述部分布局结果计算对称部分的布局结果，以得到模拟集成电路的对称约束的整体布局结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述约束模块，包括自对称约束模块和对称对约束模块；所述自对称约束模块，通过将所述自对称约束模块基于垂直轴对称或者水平轴对称分为两个模块，即将自对称约束模块的最对称约束，转换为对称对序列数据基于垂直轴对称或者水平轴对称的约束。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，当关于所述对称对约束模块的垂直轴对称，不存在所述自对称约束模块，基于对称模块的左半布局的位置信息时，右半布局的位置信息通过下面公式得到：

x(a₂)＝2·W+spacing-x(a₁)-w(a₁)

y(a₂)＝y(a₁)

其中W，H为左半布局的最小边界框，spacing是为布线所留空间，x(a₁)是左半布局中a₁的x坐标信息，w(a₁)是a₁模块的宽。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，当关于所述对称对约束模块的水平轴对称，不存在所述自对称约束模块时，所有模块的绝对位置通过上半布局的序列对表示得到，位置信息为：

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，利用评价函数将所述自对称约束模块约束在对称轴的边界：

6.一种模拟集成电路对称约束的自动布局装置，其特征在于，包括：

序列对获取模块，用于获取基于模拟集成电路的对称对序列数据，基于所述对称对序列数据中的约束模块构建序列对；

数据筛选模块，用于利用模拟退火优化方法对所述序列对进行数据筛选，得到满足预设条件的序列对的筛选结果；

部分布局模块，用于根据所述筛选结果将所述满足预设条件的序列对进行还原操作，得到模拟集成电路的对称约束的部分布局结果；以及，

整体布局模块，用于基于预设的对称模式，利用所述满足预设条件的序列对和所述部分布局结果计算对称部分的布局结果，以得到模拟集成电路的对称约束的整体布局结果。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述约束模块，包括自对称约束模块和对称对约束模块；所述自对称约束模块，通过将所述自对称约束模块基于垂直轴对称或者水平轴对称分为两个模块，即将自对称约束模块的最对称约束，转换为对称对序列数据基于垂直轴对称或者水平轴对称的约束。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，当关于所述对称对约束模块的垂直轴对称，不存在所述自对称约束模块，基于对称模块的左半布局的位置信息时，右半布局的位置信息通过下面公式得到：

x(a₂)＝2·W+spacing-x(a₁)-w(a₁)

y(a₂)＝y(a₁)

其中W，H为左半布局的最小边界框，spacing是为布线所留空间，x(a₁)是左半布局中a₁的x坐标信息，w(a₁)是a₁模块的宽。