[发明专利]一种综合电法勘探方法及装置在审
| 申请号： | 202310031165.4 | 申请日： | 2023-01-10 |
| 公开（公告）号： | CN115951414A | 公开（公告）日： | 2023-04-11 |
| 发明（设计）人： | 王本雄;陈峰;许能清;付万里 | 申请（专利权）人： | 福州华虹智能科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01V3/08 | 分类号： | G01V3/08;G01V3/38 |
| 代理公司： | 北京易捷胜知识产权代理有限公司 11613 | 代理人： | 林振杰 |
| 地址： | 350000 福建省福州市鼓*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 综合 电法勘探 方法 装置 | ||
1.一种综合电法勘探方法，其特征在于，包括：
通过扫频方式向被测地质输入预设带宽的交流频率信号，接收通过测量电极所记录下的电压数据，得到幅频响应曲线；
根据所述幅频响应曲线找到幅值衰减位置所对应的频率，得到所述被测地质的响应频率；
根据所述被测地质的响应频率和单一介质的响应频率之间的差异性得到所述被测地质赋水性的分布特征。
2.根据权利要求1所述的一种综合电法勘探方法，其特征在于，还包括：
将所述被测地质视为一阶低通滤波器电路模型，根据所述被测地质的响应频率f0和一阶滤波器公式：f＝1/2πRC得到所述被测地质的第一含水比例。
3.根据权利要求2所述的一种综合电法勘探方法，其特征在于，还包括：
接收通过测量电极所记录下的相位数据，得到相频响应曲线；
根据所述响应频率在所述相频响应曲线上的响应相位，得到所述被测地质的响应相位；
根据所述被测地质的响应频率和单一介质的响应频率之间的差异性得到所述被测地质赋水性的分布特征包括：
根据所述被测地质的响应频率和单一介质的响应频率之间的差异性以及所述被测地质的响应相位与单一介质的响应相位之间的差异性综合得到所述被测地质赋水性的分布特征。
4.根据权利要求3所述的一种综合电法勘探方法，其特征在于，还包括：
根据所述被测地质的响应相位和一阶滤波器公式：得到所述被测地质的第二含水比例；
综合所述第一含水比例和所述第二含水比例得到所述被测地质的最终含水比例。
5.根据权利要求1至4任一所述的一种综合电法勘探方法，其特征在于，所述幅值衰减位置为幅值衰减2-5dB的位置。
6.一种综合电法勘探装置，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下：
通过扫频方式向被测地质输入预设带宽的交流频率信号，接收通过测量电极所记录下的电压数据，得到幅频响应曲线；
根据所述幅频响应曲线找到幅值衰减位置所对应的频率，得到所述被测地质的响应频率；
根据所述被测地质的响应频率和单一介质的响应频率之间的差异性得到所述被测地质赋水性的分布特征。
7.根据权利要求6所述的一种综合电法勘探装置，其特征在于，还包括：
将所述被测地质视为一阶低通滤波器电路模型，根据所述被测地质的响应频率f0和一阶滤波器公式：f＝1/2πRC得到所述被测地质的第一含水比例。
8.根据权利要求7所述的一种综合电法勘探装置，其特征在于，还包括：
接收通过测量电极所记录下的相位数据，得到相频响应曲线；
根据所述响应频率在所述相频响应曲线上的响应相位，得到所述被测地质的响应相位；
根据所述被测地质的响应频率和单一介质的响应频率之间的差异性得到所述被测地质赋水性的分布特征包括：
根据所述被测地质的响应频率和单一介质的响应频率之间的差异性以及所述被测地质的响应相位与单一介质的响应相位之间的差异性综合得到所述被测地质赋水性的分布特征。
9.根据权利要求8所述的一种综合电法勘探装置，其特征在于，还包括：
根据所述被测地质的响应相位和一阶滤波器公式：得到所述被测地质的第二含水比例；
综合所述第一含水比例和所述第二含水比例得到所述被测地质的最终含水比例。
10.根据权利要求6至9任一所述的一种综合电法勘探装置，其特征在于，所述幅值衰减位置为幅值衰减2-5dB的位置。
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