[发明专利]图像拼接方法、装置、计算机设备及存储介质

权利要求书

1.一种图像拼接方法，其特征在于，包括：

获取通过图像采集设备针对目标对象采集的第一图像和第二图像；

对所述第一图像和所述第二图像进行特征点匹配，得到所述第一图像中的第一特征点集和所述第二图像中的第二特征点集；所述第一特征点集中的各第一特征点分别在所述第二特征点集中具有相匹配的第二特征点；

计算各所述第二特征点相较于相匹配的所述第一特征点的像素坐标偏移量，得到偏移量集合；

遍历所述第一特征点集，针对每个遍历至的第一特征点，获取在所述第一特征点的预设范围内的多个参考特征点，并确定所述多个参考特征点的坐标均值；

若遍历至的所述第一特征点的坐标与所述坐标均值的差值大于或等于预设坐标差值，则从所述第一特征点集中删除所述第一特征点，并从所述偏移量集合中删除根据所述第一特征点计算得到的像素坐标偏移量，以更新所述第一特征点集和所述偏移量集合；

基于更新后的第一特征点集和更新后的偏移量集合，将所述第二图像中的各像素行与所述第一图像中对应的像素行进行对齐，得到对齐后的第二图像；

将所述第一图像和所述对齐后的第二图像进行拼接，得到目标拼接图像；所述目标拼接图像完整显示所述目标对象。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述计算各所述第二特征点相较于相匹配的所述第一特征点的像素坐标偏移量，得到偏移量集合，包括：

针对每个所述第二特征点和相匹配的第一特征点，获取所述第二特征点在所述第二图像中的第二像素坐标，并获取所述相匹配的第一特征点在所述第一图像中的第一像素坐标；

计算所述第一像素坐标和所述第二像素坐标的差值，得到所述第二特征点对应的所述像素坐标偏移量；

根据各第二特征点分别对应的所述像素坐标偏移量，得到偏移量集合。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于更新后的第一特征点集和更新后的偏移量集合，将所述第二图像中的各像素行与所述第一图像中对应的像素行进行对齐，得到对齐后的第二图像，包括：

从所述第一图像中确定待插值的第一目标像素行；所述待插值的第一目标像素行中没有所述更新后的第一特征点集中的第一特征点；

对所述第一目标像素行对应的纵坐标进行线性插值，以确定待插入所述第一目标像素行的特征点，得到新增的第一特征点；

将所述新增的第一特征点加入所述更新后的第一特征点集，得到全局特征点集；

根据所述全局特征点集和更新后的偏移量集合，将所述第二图像中的各像素行与所述第一图像中对应的像素行进行对齐，得到对齐后的第二图像。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述全局特征点集和更新后的偏移量集合，将所述第二图像中的各像素行与所述第一图像中对应的像素行进行对齐，得到对齐后的第二图像，包括：

对所述更新后的偏移量集合进行多项式拟合得到拟合公式，并根据所述拟合公式预测所述全局特征点集中所述新增的第一特征点的像素坐标偏移量；

将预测的像素坐标偏移量加入所述更新后的偏移量集合，得到全局的像素坐标偏移量集合；

根据所述全局特征点集和所述全局的像素坐标偏移量集合，将所述第二图像中的各像素行与所述第一图像中对应的像素行进行对齐，得到对齐后的第二图像。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述全局特征点集和所述全局的像素坐标偏移量集合，将所述第二图像中的各像素行与所述第一图像中对应的像素行进行对齐，得到对齐后的第二图像，包括：

针对所述第一图像中的每个像素行，确定所述全局特征点集在所述像素行上的第一特征点，得到目标特征点；

从所述全局的像素坐标偏移量集合中确定根据所述目标特征点计算得到的像素坐标偏移量，得到目标像素坐标偏移量；

根据所述目标像素坐标偏移量，在所述第二图像中定位与所述目标特征点所在像素行相匹配的第二目标像素行；

分别将所述第二图像中的各第二目标像素行对齐至所述第一图像中与所述第二目标像素行相匹配的像素行，得到对齐后的第二图像。