[实用新型]一种检查色差的显微镜架台

说明书

本申请公开了一种检查色差的显微镜架台，属于显微镜技术领域，其包括支撑架，所述支撑架上滑动设置有支撑台，所述支撑架上滑动设置有用于检测所述支撑台位移的磁栅尺，所述磁栅尺与所述支撑台之间设置有连接杆，所述磁栅尺以及所述支撑台分别与所述连接杆两端固定连接，所述支撑架上设置有用于驱动所述支撑台移动的第一驱动组件。本申请具有可以通过星点法检测位置色差的效果。

技术领域

本申请涉及显微镜技术的领域，尤其是涉及一种检查色差的显微镜架台。

背景技术

星点检验法是通过观察一个点光源经光学系统后在像面及像面前后不同截面上所成衍射像(通常称为星点像)的形状及光强分布来定性评价光学系统成像好坏的方法。它具有使用设备简单，现象直观，精确度较高的优点。

传统显微镜架台使用星点法只能检查倍率色差，无法检查位置色差。

实用新型内容

为了通过星点法检查位置色差，本申请提供一种检查色差的显微镜架台。

本申请提供的一种检查色差的显微镜架台采用如下的技术方案：

一种检查色差的显微镜架台，包括支撑架，所述支撑架上滑动设置有支撑台，所述支撑架上滑动设置有用于检测所述支撑台位移的磁栅尺，所述磁栅尺与所述支撑台之间设置有连接杆，所述磁栅尺以及所述支撑台分别与所述连接杆两端固定连接，所述支撑架上设置有用于驱动所述支撑台移动的第一驱动组件。

通过采用上述技术方案，在显微镜对支撑台上的试片进行位置色差检测时，第一驱动组件驱动支撑台移动，改变支撑台上试片位置，同时磁栅尺跟随支撑台移动，磁栅尺能够精确测量支撑台位移距离，通过磁栅尺以及色差检测结构共同计算出位置色差结果。

优选的，所述支撑架上设置有第一滑轨以及第二滑轨，所述支撑台与所述第一滑轨滑动连接，所述磁栅尺与所述第二滑轨滑动连接。

通过采用上述技术方案，第一滑轨以及第二滑轨能够提高支撑台以及磁栅尺移动时的稳定性。

优选的，所述第一驱动组件包括第一丝杆，所述第一丝杆转动安装于所述支撑台上，所述第一丝杆穿过所述支撑台，所述第一丝杆与所述支撑台螺纹配合，所述支撑台上设置有用于驱动所述第一丝杆转动的第二驱动组件。

通过采用上述技术方案，第二驱动组件驱动第一丝杆转动，第一丝杆转动从而使得支撑台沿第一滑轨移动。

优选的，所述第二驱动组件包括蜗轮以及蜗杆，所述蜗轮固定套设于所述第一丝杆上，所述蜗杆穿设于所述支撑架上，所述蜗杆与所述支撑架转动连接，所述蜗轮与所述蜗杆相互啮合。

通过采用上述技术方案，操作人员转动蜗杆，蜗杆转动使得蜗轮转动，蜗轮转动使得第一丝杆转动，第一丝杆转动从而使得支撑台沿第一滑轨移动。

优选的，所述支撑台上设置有复合照明组件，所述复合照明组件包括若干灯体以及导光棒，所述支撑架上设置有套管，所述灯体以及所述导光棒均设置于所述套管内，所述套管远离所述灯体的端部设置有匀光片。

通过采用上述技术方案，在对试片进行位置色差检测时，灯体通过导光棒聚集并穿过匀光片照射在试片上，采用导光棒能够提高光线聚集度，匀光片能够将光束投射为能量分布均匀的光斑，提高检测结果准确度。

优选的，所述支撑台上设置有用于夹持试片的夹持板，所述支撑台上开设有用于与所述夹持板滑移配合的第一滑槽，所述支撑台上设置有用于驱动所述夹持板移动的第三驱动组件。

通过采用上述技术方案，操作人员将试片放置在支撑台上后，第三驱动组件驱动夹持板在第一滑槽内滑动将试片夹持，防止操作人员在调整支撑台角度时，试片脱落。

优选的，所述第三驱动组件包括第二丝杆，所述第二丝杆穿设于所述支撑台上，所述第二丝杆与所述支撑台转动连接，所述第二丝杆穿过所述夹持板，所述夹持板与所述第二丝杆螺纹配合。