[实用新型]一种微结构角度激光测试仪器

说明书

本实用新型公开了一种微结构角度激光测试仪器，旨在解决现有的光学薄膜通过显微镜观察膜片结构流程复杂，无法应用于生产线的不足。该实用新型包括架体、激光光源、膜片固定器以及刻度尺，激光光源固定连接在架体的一端，刻度尺固定连接在架体的另一端，膜片固定器固定连接在架体的中部位置，激光光源产生的激光与膜片固定器定位的膜片垂直。利用激光在膜片不同形状的微结构折射产生的不同偏折角度来测算微结构的特征，方便高效，易于在生产线上推广，本装置能轻易照射到不规则的几何图案表面，就算是最深处也可照射到，精度更高。

技术领域

本实用新型涉及膜片生产检测领域，更具体地说，它涉及一种微结构角度激光测试仪器。

背景技术

光学薄膜由薄的分层介质构成的，通过界面传播光束的一类光学介质材料。光学薄膜已广泛用于光学和光电子技术领域，制造各种光学仪器。

在目前的薄膜生产过程中，由于模具或生产时参数的影响导致膜片结构的角度发生偏差，这类问题在现场检验时无法用肉眼看出，也没有专门的检测手段，只能通过显微镜放大测量后测得具体结构角度，但每一棱的结构都有所偏差不能够保证测量结果的准确性，且耗时耗力，测量过程中若停止生产将会造成一定的经济损失，若结果不准确发出，也会影响客户的生产。

所以需要一种专门的便携的检测仪器，能够在现场实时检测，方便快捷，且数据具有一定准确性。

中国专利公告号CN108240995A，名称为膜片的检测系统、检测方法和装置，该申请案公开了一种膜片的检测系统、检测方法和装置。其中，该系统包括：载台，用于承载待检测膜片；图像采集装置，用于根据预设的采集参数采集待检测膜片的图像；数据处理装置，分别与载台和图像采集装置相连，用于基于待检测膜片的图像，采用预设的判定标准对待检测膜片进行检测。采用显微镜放大后测量，具有检测慢，设备操作流程复杂，无法应用于生产线的不足。

发明内容

本实用新型克服了现有的光学薄膜通过显微镜观察膜片结构流程复杂，无法应用于生产线的不足，提供了一种微结构角度激光测试仪器，它能便捷地检测光学薄膜的微结构，能够大量在生产线进行使用。

为了解决上述技术问题，本实用新型采用以下技术方案：

一种微结构角度激光测试仪器，包括架体、激光光源、膜片固定器以及刻度尺，激光光源固定连接在架体的一端，刻度尺固定连接在架体的另一端，膜片固定器固定连接在架体的中部位置，激光光源产生的激光与膜片固定器定位的膜片垂直。

本申请通过激光发射在膜片上，在膜片上进行折射，并出射在刻度尺的表面上，通过刻度尺的刻度将激光产生的偏转进行量化。由于膜片上的微结构角度不同，造成的偏折的出射角度也会产生变化，通过收集刻度尺上的量化位置，可以得到相应的微结构的形状。将激光光源、膜片固定器以及刻度尺均以固定的方式设置在架体上，从而减少了相应的变量，使刻度尺上的激光光点仅处于受到微结构的影响，提高了精度，也减小了使用仪器的难度，方便在生产线上普及。

作为优选，膜片固定器包括相向设置的第一槽和第二槽，第一槽和第二槽的槽底壁距离小于膜片宽度。膜片固定器以可拆卸连接的方式连接膜片，具体的，膜片以插装的形式连接在膜片固定器中。通过膜片插入到第一槽和第二槽的槽边之间。当膜片插入到第一槽和第二槽之间时，膜片至少有部分伸出第一槽和第二槽的槽边使得激光能够直接照射在膜片上。

作为优选，刻度尺为透光材料。上述结构使得激光光源处于底部，刻度尺处于顶部。通过透明的刻度尺，可以方便的查看激光光源偏折后照射在刻度尺上的位置。

作为优选，刻度尺的各个刻度具有对应膜片结构的标记。通过更复杂的设备测得各个微结构的形状及其在本仪器照射在刻度尺上的位置后，对照射位置和相应的微结构进行映射并记录在刻度尺上。如此，可以省去相应的换算步骤，方便推广。

作为优选，架体的侧面设有保护板，保护内部结构，避免外部杂物微粒侵入，影响检测效果。