[实用新型]一种QFN基板检测治具有效

专利信息
申请号: 202223019205.3 申请日: 2022-11-14
公开(公告)号: CN218674707U 公开(公告)日: 2023-03-21
发明(设计)人: 朱双信;聂童;唐家云;冯增新 申请(专利权)人: 杭州美迪凯光电科技股份有限公司
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01N21/84;B25B11/02
代理公司: 杭州华知专利事务所(普通合伙) 33235 代理人: 张德宝
地址: 310000 浙江省杭州市杭州*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 qfn 检测
【说明书】:

实用新型公开了一种QFN基板检测治具,包括底板,所述底板上中心位置对应QFN基板中心设置有镂空的检测口,底板上两侧分别平行设置有支架,两侧支架底部内侧分别对应设置有供QFN基板插入限位的插槽,两侧支架分别呈L形,对称分布于底板上两侧。镂空的检测口用于产品基板在夹具内正面检测完后,可以直接翻过面检测背面。两侧支架分别呈L形,通过结合插槽用于限制基板的移动。本实用新型通过使用QFN基板检测治具来替代传统手拿捏检测方式,通过此治具检测,可以防止手触碰到基板表面,造成损坏,可提高良率,使检测过程更方便,提高了检测效率。

技术领域

本实用新型涉及QFN封装技术领域,尤其涉及一种QFN基板检测治具。

背景技术

QFN封装技术中,如图1所示,芯片b和基板a贴合后,会出现芯片偏移,银浆填充过量等问题,需要通过显微镜观察检测产品,由于基板非常薄,厚度只有0.2mm,没有夹具的情况下,是用收拿捏住基板两边,在显微镜下观察,用手拿捏的情况下,会出现没拿稳掉落,而手按压到基板表面,产品会产生污染损坏,由于表面的焊线触碰到很容易损坏,因此传统方式地检测会影响产品良率,因此需要一种QFN基板检测夹治具来替代传统手拿捏检测方式。

实用新型内容

为解决上述技术问题,本实用新型设计了一种QFN基板检测治具。

本实用新型采用如下技术方案:

一种QFN基板检测治具,包括底板,所述底板上中心位置对应QFN基板中心设置有镂空的检测口,底板上两侧分别平行设置有支架,两侧支架底部内侧分别对应设置有供QFN基板插入限位的插槽,两侧支架分别呈L形,对称分布于底板上两侧。镂空的检测口用于产品基板在夹具内正面检测完后,可以直接翻过面检测背面。两侧支架分别呈L形,通过结合插槽用于限制基板的移动。

作为优选,所述底板上检测口中心位置设置有支撑杆。

作为优选,所述两侧支架内侧位于插槽外分别设置有凸起,凸起交错分布于两支架上插槽外前后部。

作为优选,所述插槽的高度小于3mm。

作为优选,所述两侧支架位于插槽入口处设置有喇叭口。便于基板插入插槽内。

作为优选,所述底板上位于镂空的检测口入口处设置有斜坡面。便于基板中心部分滑入镂空的检测口内。

本实用新型的有益效果是:本实用新型设计了一种QFN基板检测治具,来替代传统手拿捏检测方式,通过此治具检测,可以防止手触碰到基板表面,造成损坏,可提高良率,使检测过程更方便,提高了检测效率。

附图说明

图1是QFN封装技术中与芯片贴合后的QFN基板的一种结构示意图;

图2是本实用新型的一种立体图;

图3是本实用新型的一种主视图;

图4是本实用新型的一种右视图;

图中:a、基板,b、芯片,1、底板,2、支架,3、检测口,4、支撑杆,5、插槽,6、凸起,7、喇叭口,8、斜坡面。

具体实施方式

下面通过具体实施例,并结合附图,对本实用新型的技术方案作进一步的具体描述:

实施例:如图2-图4所示,一种QFN基板检测治具,包括底板1,所述底板上中心位置对应QFN基板中心设置有镂空的检测口3,底板上两侧分别平行设置有支架2,两侧支架底部内侧分别对应设置有供QFN基板插入限位的插槽5,两侧支架分别呈L形,对称分布于底板上两侧。镂空的检测口用于产品基板在夹具内正面检测完后,可以直接翻过面检测背面。两侧支架分别呈L形,通过结合插槽用于限制基板的移动。

底板上检测口中心位置设置有支撑杆4。

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