[实用新型]MiniLED光学测试装置

说明书

本实用新型涉及一种MiniLED光学测试装置，包括：测试框、测试仪、多个第一间隔杆和多个第二间隔杆，通过将各第一间隔杆间隔设置在测试框上，每一第二间隔杆的两端分别滑动设置在测试框的两侧上，且每一第二间隔杆通过滑动槽滑动设置在各第一间隔杆上，这样，能够通过滑动第二间隔杆调节测试槽之间的间距，在水平方向上形成不同排列间距的测试槽，使得不同灯板上的不同排列间距的MiniLED能够位于测试槽内，能够对不同灯板上的不同排列间距的MiniLED进行测试，同时，能够使得单颗MiniLED之间的光信号互不干扰，能够更加准确地测试出单颗MiniLED及灯板上各区域的差异，确定灯板上亮度不均匀的区域。

技术领域

本实用新型涉及光学测试设备技术领域，特别涉及一种Mini LED光学测试装置。

背景技术

LED(Light-Emitting Diode，发光二极管)是一种能发光的半导体二极管，当电子与空穴复合时能辐射出可见光，是一种直接把电能转化为光和辐射能的发光器件。

在灯板的生产过程中，在线路板上安装好Mini LED后，需要对Mini LED 的光学性能进行测试，常通过隔板将灯板上的各个Mini LED间隔开来，使得各 Mini LED之间的光信号互不干扰，但现有的测试装置的隔板上的镂孔位置固定，只能对灯板上特定排列顺序的Mini LED进行间隔及检测。

实用新型内容

基于此，有必要提供一种Mini LED光学测试装置。

本实用新型解决上述技术问题的技术方案如下：一种Mini LED光学测试装置，包括：测试框、多个第一间隔杆和多个第二间隔杆；

每一所述第一间隔杆的第一端与所述测试框的第一端连接，每一所述第一间隔杆的第二端与所述测试框的第二端连接，各所述第一间隔杆之间间隔设置；

每一所述第二间隔杆的第一端滑动设置在所述测试框的第一侧上，每一所述第二间隔杆的第二端滑动设置在所述测试框的第二侧上，每一所述第二间隔杆上开设有多个滑动槽，每一所述第二间隔杆通过所述滑动槽滑动设置在各所述第一间隔杆上；

各所述第一间隔杆及各所述第二间隔杆之间间隔成多个测试槽。

在一个实施例中，所述测试框的第一侧上开设有第一滑槽，所述测试框的第二侧上开设有第二滑槽，每一所述第二间隔杆的第一端上设置有第一滑块，所述第一滑块滑动设置在第一滑槽内，每一所述第二间隔杆的第二端上设置有第二滑块，所述第二滑块滑动设置在第二滑槽内。

在一个实施例中，所述第一滑槽的截面形状为凸字形，所述第一滑块的形状与所述第一滑槽的形状相适配。

在一个实施例中，所述第一滑槽的底部设置有第一磁吸件，所述第一滑块上设置有第二磁吸件，所述第一磁吸件与所述第二磁吸件磁性连接。

在一个实施例中，所述第二滑槽的截面形状为凸字形，所述第二滑块的形状与所述第二滑槽的形状相适配。

在一个实施例中，所述第二滑槽的底部设置有第三磁吸件，所述第二滑块上设置有第四磁吸件，所述第三磁吸件与所述第四磁吸件磁性连接。

在一个实施例中，所述第一磁吸件和所述第二磁吸件设置为以下情况：

所述第一磁吸件为铁片，所述第二磁吸件为磁块；

或，所述第一磁吸件为磁块，所述第二磁吸件为铁片。

在一个实施例中，所述第三磁吸件和所述第四磁吸件设置为以下情况：

所述第三磁吸件为铁片，所述第四磁吸件为磁块；

或，所述第三磁吸件为磁块，所述第四磁吸件为铁片。