[实用新型]姿态传感器测试装置

说明书

本实用新型公开了姿态传感器测试装置，其包括内部中空的壳体，所述壳体内部中空位置设有若干个测试底座，所述测试底座上开设有测试槽，每个所述测试底座设有用于与待测试的姿态传感器引脚位置相匹配的测试针，所述测试针垂直固定于所述测试槽的槽底位置，所述测试针的侧壁用于与所述待测试的姿态传感器的引脚一一抵接。本申请具有减少测试针的占用空间，便于增加多个测试底座对姿态传感器进行批量测试的效果。

技术领域

本实用新型涉及传感器测试装置领域，尤其是涉及姿态传感器测试装置。

背景技术

目前，姿态传感器被广泛应用于无人机、机械云台、机器人及虚拟现实等领域中，姿态传感器可以通过低功耗的ARM处理器输出校准过的角速度、加速度和磁数据等，大大提高了智能产品对运动姿态的掌控，姿态传感器在投入使用之前通常需要进行性能测试。

现有的姿态传感器测试装置包括调试板，调试板上固定安装有若干侧边顶针，侧边顶针相对设置形成测试工位，且侧边顶针远离测试工位的一端沿调试板的横截面方向延伸，侧边顶针位于测试工位处的端部位置与待测试的姿态传感器的引脚位置相互抵接，在对姿态传感器进行测试时，将调试板放置于测试环境中，并通过侧边顶针将待测试传感器的性能参数以电信号的方式传递至对应的处理中心。

上述中的横向铺设测试针所占用的测试空间较大，存在有横向铺设的测试针占用测试空间较大的缺陷。

实用新型内容

为了减小测试针在调试板上的占用空间，便于增加多个测试底座对姿态传感器进行批量测试，本申请提供姿态传感器测试装置。

本申请提供的姿态传感器测试装置，采用如下的技术方案：

提供姿态传感器测试装置，包括：内部中空的壳体，所述壳体内部中空位置设有若干个测试底座，所述测试底座上开设有测试槽，每个所述测试底座设有用于与待测试传感器引脚位置相匹配的测试针，所述测试针垂直固定于所述测试槽的槽底位置，所述测试针的侧壁用于与所述待测试的姿态传感器的引脚一一抵接。

通过采用上述技术方案，由于横向铺设的测试针需要将针头位置与待测试的姿态传感器的引脚分别进行一一抵接，从而造成横向铺设的测试针占用过多的测试空间，不便于同时对多个姿态传感器进行批量测试，因此，在进行姿态传感器测试时，通过垂直固定于测试槽的若干个测试针的侧壁与待测试的姿态传感器的引脚分别进行一一抵接，通过每个测试针和姿态传感器的引脚之间的相互抵接作用，提高测试针和姿态传感器的连接稳定性，通过垂直于测试槽槽底的测试针，使测试底座的占用空间与待测试姿态传感器的大小相适配，来减少测试针铺设时占用的测试空间，相对于横向铺设的测试针，本申请可以在相同的测试空间内铺设多个测试底座，从而便于对姿态传感器进行批量测试，提高测试装置对姿态传感器的测试效率。

优选的，测试装置还包括：用于限制待测试的姿态传感器发生偏移的盖板，所述盖板盖设于所述测试底座的开口上方位置；所述盖板的相对两侧分别设有将所述盖板和所述壳体进行锁定的锁定组件。

通过采用上述技术方案，由于姿态传感器常常需要进行翻转测试，因此，在将待测试的姿态传感器放置于测试底座后，为了减少垂直设置的定测试针将放置好的姿态传感器顶出测试槽，本申请将盖板盖设于测试底座的开口上方，且通过锁定组件将盖板和壳体进行锁定，提高盖板和壳体的装配稳定性，从而减少姿态传感器在进行翻转测试时，姿态传感器因翻转发生偏移而引起测试误差的情况，从而提高姿态传感器和测试针的装配稳定性。

优选的，所述锁定组件包括：相对设置的锁定板，所述锁定板分别铰接于所述盖板的相对两侧；所述锁定板远离所述盖板的一侧设有卡接块；所述壳体的相对两侧设有与所述卡接块相配合的限位槽，所述卡接块用于卡接于所述限位槽。