[实用新型]一种用于电容测试的夹具

说明书

本实用新型涉及电容测试设备领域，具体涉及一种用于电容测试的夹具，包括两支撑杆、探针固定基板、引出线接头、探针、压板、压板缓冲结构以及防护结构，两支撑杆固定设立在探针固定基板的两端，探针固定基板上开设有探针穿孔，引出线接头位于探针固定基板的上方，以供连接探针并向下穿入探针穿孔，压板连接在探针固定基板的下方，压板上对应地开设有供探针穿出的通孔，压板缓冲结构配合支撑杆与探针固定基板安装，用于对探针下压时缓冲，防护结构包括防护板以及防护板缓冲结构，防护板通过防护板缓冲结构平行地设置在压板下方，防护板上对应地开设有过针孔，以供探针穿过。本实用新型通过设置防护结构，防止测试时电容爆炸对外物造成损伤。

技术领域

本实用新型涉及电容测试装置领域，具体涉及一种用于电容测试的夹具。

背景技术

电容在制作后，需要进行电性能的参数测试，如容量参数、损耗测试、漏电流测试、耐电压测试等，业界之前测试方式采用单颗电容的方式，效率比较低，目前通过改进测试夹具，尤其是测试头的改进，已可以一次进行多颗测试，比如一次性测试24颗、48颗、96颗等，然电容在测试中，有些电容可能出现爆炸的情况，如钽电容，若出现不良或者测试的电路峰值输出电流过大会导致钽电容爆炸，目前的夹具尚未对易爆作出一定的防护结构。

实用新型内容

为了克服现有技术不足，现提出一种可对测试中的爆炸进行防护的用于电容测试的夹具。

本实用新型通过如下技术方案实现：

一种用于电容测试的夹具，包括两支撑杆、探针固定基板、引出线接头、探针、压板以及压板缓冲结构，两支撑杆固定设立在探针固定基板的两端，探针固定基板上开设有探针穿孔，引出线接头位于探针固定基板的上方，以供连接探针并向下穿入探针固定基板上的探针穿孔，压板连接在探针固定基板的下方，压板上对应地开设有通孔，以供从探针固定基板上穿出的探针向下穿出，压板缓冲结构配合支撑杆与探针固定基板安装，用于对探针下压时缓冲，所述夹具包括防护结构，防护结构包括防护板以及防护板缓冲结构，所述防护板通过防护板缓冲结构平行地设置在压板的下方，所述防护板上对应地开设有过针孔，以供探针穿过。

进一步地，所述压板缓冲结构包括顶抵板、顶钉、缓冲柱、以及螺旋弹簧，顶抵板固接在支撑杆的周侧，具有与探针固定基板平行的平板部，平板部上开设有安装孔，顶钉安装于安装孔上，用于配合所述缓冲柱与螺旋弹簧，使得顶钉维持弹性压抵在顶抵板的平板部上，并在缓冲柱上移时连同缓冲柱一起上移。

进一步地，所述顶钉具有端盖部与柱体部，顶钉安装在安装孔上，其柱体部向下伸出安装孔，端盖部压抵在平板部上，缓冲柱下端穿过探针固定基板伸入至探针固定基板下方，缓冲柱的顶端固接顶钉的柱体部，螺旋弹簧下端固接在探针固定基板上，螺旋弹簧上端套设固定在顶钉的柱体部上，并弹性下拉顶钉，使得顶钉维持弹性压抵在顶抵板上。

进一步地，所述顶钉为螺帽状结构，顶钉螺接在缓冲柱穿过安装孔向上穿出的顶端，螺旋弹簧下端固接在探针固定基板上，螺旋弹簧的上端固接在缓冲柱的上端，提供对缓冲柱或顶钉下移弹力。

进一步地，所述压板缓冲结构包括导套，导套包括顶板部及形成在顶板部底面的套筒部，顶板部上开设有连通孔与套筒部在轴向连通，探针固定基板上开设有配合孔以供安装所述导套，导套通过顶板部固接在探针固定基板上，套筒部穿套在配合孔内，缓冲柱穿过所述导套，螺旋弹簧的底端固接在导套的顶板部上。

进一步地，所述缓冲柱的中部外周形成有阻挡环，阻挡环的外径小于导套的套筒部的孔径，大于导套的顶板部上的连通孔的孔径，缓冲柱的阻挡环在套筒部内，距顶板部上的连通孔具有预设的限位距离。

进一步地，所述防护板缓冲结构包括立柱、压缩弹簧、以及螺环，立柱固定地立设在防护板上表面两端，立柱顶端的外周表面形成有螺纹，探针固定基板上对应立柱开设有轴孔，压缩弹簧套设在立柱上，立柱顶端穿过轴孔后所述螺环螺接在立柱顶端，压缩弹簧弹性压抵在防护板与探针固定基板之间。