[实用新型]一种用于IGBT驱动器功能测试的装置有效

专利信息
申请号: 202222349207.2 申请日: 2022-09-05
公开(公告)号: CN218629896U 公开(公告)日: 2023-03-14
发明(设计)人: 黄飞;曹秀英;司晓娣 申请(专利权)人: 北京联研国芯技术有限责任公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R1/073
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 张文娥
地址: 102200 北京市昌平区未来科学城*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 igbt 驱动器 功能 测试 装置
【说明书】:

本申请提供了一种用于IGBT驱动器功能测试的装置,所述装置包括:设置有多个探针的针床、功能测试转接板、至少一个第一转接部件和至少一个第二转接部件;所述第一转接部件的正面设置有多个第一正面连接点,所述第一转接部件的反面设置有多个第一反面连接点;所述第二转接部件的正面设置有多个第二正面连接点,所述第二转接部件的反面设置有多个第二反面连接点;所述功能测试转接板上焊接有至少一个第一转接部件、多个功能检测点以及多条走线;所述第二转接部件的每个第二反面连接点与对应的第一转接部件的第一正面连接点连接。通过所述装置,能够保护测试人员对板卡进行测试时的安全以及板卡不受损害。

技术领域

本申请涉及IGBT驱动器测试技术领域,具体而言,涉及一种用于IGBT驱动器功能测试的装置。

背景技术

IGBT驱动器是驱动IGBT并对其整体性能进行调控的装置,它不仅影响了IGBT的动态性能,同时也影响系统的成本和可靠性。因此,在IGBT驱动器投入市场之前,需要对IGBT驱动器进行测试,以确保IGBT驱动器的功能是正常可靠的。

现有技术中,对IGBT驱动器功能进行测试的方案一般是测试人员借助万用表、示波器等辅助设备直接对IGBT驱动器的裸板的各个测试点进行测试。然而,由于对IGBT驱动器的裸板进行功能测试的测试项目较多,对应的测试点也较多且测试点不均匀地分布在裸板的正反面上,测试人员需要多次带电翻转裸板进行测量采集数据,在这种情况下,在测试中存在很多问题,例如,一方面,如果测试人员误触了板卡的电源会对板卡造成损坏、或者由于人体本身静电较大,测试人员手工直接对裸板测试点进行测量还会对板卡元器件造成静电损坏,另一方面,测试人员手工直接测试带电板卡危险性较高。综上,现有技术中对IGBT驱动器功能进行测试的方案中无法保护测试人员的安全以及保护板卡不受损害。

发明内容

有鉴于此,本申请实施例的目的在于提供一种用于IGBT驱动器功能测试的装置,能够保护测试人员对板卡进行测试时的安全以及板卡不受损害。

第一方面,本申请实施例提供的一种用于IGBT驱动器功能测试的装置,包括:设置有多个探针的针床、功能测试转接板、至少一个第一转接部件和至少一个第二转接部件;

所述第一转接部件的正面设置有多个第一正面连接点,所述第一转接部件的反面设置有多个第一反面连接点;所述第二转接部件的正面设置有多个第二正面连接点,所述第二转接部件的反面设置有多个第二反面连接点;

所述功能测试转接板上焊接有至少一个第一转接部件、多个功能检测点以及多条走线;每个功能检测点通过走线与相应的第一转接部件的第一反面连接点连接;

所述多个探针中的每个探针的引出端通过连接线与相应的第二转接部件的第二正面连接点连接;

所述第二转接部件的每个第二反面连接点与对应的第一转接部件的第一正面连接点连接。

可选地,所述第一转接部件为母头连接器,所述第二转接部件为公头连接器;

所述母头连接器的第一正面连接点为插槽;所述母头连接器的第一反面连接点为插槽底部的金属片;所述公头连接器的第二正面连接点为焊点;所述公头连接器的第二反面连接点为插针。

可选地,所述每个功能检测点通过走线与相应的第一转接部件的第一反面连接点连接,包括:

所述走线的第一端焊接在对应的功能检测点上,所述走线的第二端焊接在对应的母头连接器的插槽底部的金属片上。

可选地,所述多个探针中的每个探针的引出端通过连接线与相应的第二转接部件的第二正面连接点连接,包括:

所述多个探针中的每个探针的引出端与连接线的第一端焊接,所述连接线的第二端焊接在相应的公头连接器的焊点上。

可选地,所述第二转接部件的每个第二反面连接点与对应的第一转接部件的第一正面连接点连接,包括:

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