[实用新型]磨床及其检测组件有效

专利信息
申请号: 202222113987.0 申请日: 2022-08-11
公开(公告)号: CN218639374U 公开(公告)日: 2023-03-17
发明(设计)人: 徐德军;苏庚;陈明一;薛俊兵 申请(专利权)人: 青岛高测科技股份有限公司
主分类号: B24B49/00 分类号: B24B49/00;B24B41/02;B24B47/22
代理公司: 北京瀚仁知识产权代理事务所(普通合伙) 11482 代理人: 白改芳
地址: 266114 山东省青岛市*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 磨床 及其 检测 组件
【说明书】:

实用新型涉及磨床技术领域,具体提供了一种磨床及其检测组件,旨在提供一种能够与提高上料精度的上料组件相适配的检测组件。为此目的,本实用新型的磨床包括沿待加工件的进给方向设置的粗磨砂轮和精磨砂轮,所述检测组件包括:基板;以及滑板,其上设置有探针组,所述滑板能够相对所述基板移动从而使得滑板以及设置于所述滑板上的探针组相对所述基板靠近/远离待加工件;其中,所述检测组件位于所述磨床上所述粗磨砂轮靠近所述精磨砂轮的位置、所述精磨砂轮靠近所述粗磨砂轮的位置或者所述粗磨砂轮和所述精磨砂轮之间。通过这样的构成,给出了一种能够与提高上料精度的上料组件相适配的、配置于粗磨砂轮的检测组件的构成方式。

技术领域

本实用新型涉及磨床技术领域,具体提供一种磨床及其检测组件。

背景技术

磨床是对硬脆材料进行磨削加工的设备。如磨床通常包括上料组件、进给组件以及磨削组件。以硬脆材料的件为硅棒为例,如首先将开方后的硅棒固定至上料组件,对其所处的位置和姿态进行后一定的初步调节后,将硅棒送达至进给组件的两个夹头之间,如两个夹头可以均为动夹头或者一个夹头为动夹头一个夹头为定夹头。通过的硅棒轴向运动,将硅棒送达磨削组件从而对第一组待磨削面进行包括粗磨和精磨在内的磨削加工。之后,通过使硅棒的旋转,从而转动至第二组待磨削面,在此基础上,对该第二组待磨削面进行包括粗磨和精磨在内的磨削加工。如此重复,直至硅棒所有的待磨削面按照设定的磨削标准被磨削。

仍以硬脆材料的件为硅棒为例,由于硅棒的规格不同且同种规格的硅棒的外形尺寸也有区别,因此,在将硅棒放在上料平台上的情形下,硅棒的轴线与两个夹头的轴线之间通常存在一定的位置偏差。此外,由于磨削前的硅棒表面本身存在不平整的现象,硅棒的轴线与两个夹头的轴线之间还存在一定的角度偏差。显然,位置偏差和角度偏差的存在均会对两根轴线的同轴度产生影响,而两根轴线之间的同轴度在磨床上则表现为硅棒的上料精度。上述位置偏差和角度偏差中的任一环节的不达标将会影响硅棒的上料精度,上料精度的降低通常会表现为不同程度的硅棒磨削量的增加、硅损提高,从而导致磨床的加工效率降低、硅棒的表面质量降低。在通过上料组件保证了硅棒的上料精度的情形下,需要基于检测组件的检测结果,确定粗磨砂轮和精磨砂轮的磨削量。在检测结果表明上料精度不达标的情形下,需要重新调整硅棒的位置和姿态,故而需要对目前的检测组件作出与上料组件相适配的改进。

实用新型内容

本实用新型旨在提供一种与能够提高上料精度的上料组件相适配的检测组件。

在第一方面,本实用新型提供了一种磨床的检测组件,该磨床包括沿待加工件的进给方向设置的粗磨砂轮和精磨砂轮,所述检测组件包括:基板;以及滑板,其上设置有探针组,所述滑板能够相对所述基板移动从而:使得滑板以及设置于所述滑板上的探针组相对所述基板靠近/远离待加工件;其中,所述检测组件位于所述磨床上所述粗磨砂轮靠近所述精磨砂轮的位置、所述精磨砂轮靠近所述粗磨砂轮的位置或者所述粗磨砂轮和所述精磨砂轮之间。

通过这样的构成,给出了的检测组件在磨床上的配置方式。

可以理解的是,本领域技术人员可以根据实际需求确定检测组件在磨床上的具体设置方式,以检测组件位于粗磨砂轮和精磨砂轮之间为例,如可以是:粗磨砂轮和精磨砂轮共用一个安装支架,将检测组件设置于安装支架中部的位置;在粗磨砂轮和精磨砂轮之间增设一个独立的支架,将检测组件固定在该独立的支架上;等。

可以理解的是,通过滑板的设置,检测构件的内部可以产生位移,具体而言,伴随于滑动相对基板的滑动,滑板上的探针组能够相对基板产生靠近/远离待加工件的位移。可以理解的是,本领域技术人员可以根据实际需求确定滑动的产生所依赖的具体的驱动(传动)机构,如气缸直接驱动、电机与丝杠螺母机构组合而成的驱动传动机构等。

对于上述磨床的检测组件,在一种可能的实施方式中,所述磨床包括底座,所述基板相对所述底座移动,从而使得所述基板以及所述探针组靠近/远离待加工件。

通过这样的构成,给出了检测构件外部(整体)相对磨床的底座产生位移的具体方式。

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