[实用新型]一种高效多工位晶圆测试机有效
申请号: | 202222099840.0 | 申请日: | 2022-08-10 |
公开(公告)号: | CN217846050U | 公开(公告)日: | 2022-11-18 |
发明(设计)人: | 令龙军;钟国华;周军 | 申请(专利权)人: | 纳美半导体设备(东莞)有限公司 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01;G01N21/95;G01R31/28 |
代理公司: | 广东灵顿知识产权代理事务所(普通合伙) 44558 | 代理人: | 赖耀华 |
地址: | 523000 广东省东莞市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高效 多工位晶圆 测试 | ||
1.一种高效多工位晶圆测试机,其特征在于:包括机座(1);所述机座(1)设有龙门架(11)、上料架(12)、下料架(13)、第一测试模组以及第二测试模组;
所述第一测试模组包括第一直线机构(21)、第二直线机构(22)以及第一测试机构(91);所述第二测试模组包括第三直线机构(23)、第四直线机构(24)以及第二测试机构(92);所述第一直线机构(21)、第二直线机构(22)、第三直线机构(23)以及第四直线机构(24)分别设有第一校正座(31)、第二校正座(32)、第三校正座(33)以及第四校正座(34);
所述龙门架(11)设有机械手模组;所述机械手模组用于在上料架(12)、第一校正座(31)、第二校正座(32)、第三校正座(33)、第四校正座(34)以及下料架(13)之间移动;
所述龙门架(11)设有第一CCD机构(41)以及第二CCD机构(42);所述第一CCD机构(41)用于在第一校正座(31)与第二校正座(32)之间移动;所述第二CCD机构(42)用于在第三校正座(33)与第四校正座(34)之间移动。
2.根据权利要求1所述的一种高效多工位晶圆测试机,其特征在于:所述机械手模组包括设于龙门架(11)的第一横向移动组件(51)、设于第一横向移动组件(51)的第一升降移动组件(52)以及设于第一升降移动组件(52)的吸附座(53);所述第一横向移动组件(51)用于驱动吸附座(53)横向移动;所述第一升降移动组件(52)用于驱动吸附座(53)升降;所述吸附座(53)设有若干个真空吸嘴(54);
所述第一直线机构(21)、第二直线机构(22)、第三直线机构(23)以及第四直线机构(24)分别用于驱动第一校正座(31)、第二校正座(32)、第三校正座(33)以及第四校正座(34)纵向移动。
3.根据权利要求1所述的一种高效多工位晶圆测试机,其特征在于:所述龙门架(11)设有用于驱动第一CCD机构(41)横向移动的第二横向移动组件(43)以及用于驱动第二CCD机构(42)横向移动的第三横向移动组件(44);
所述第一直线机构(21)、第二直线机构(22)、第三直线机构(23)以及第四直线机构(24)分别用于驱动第一校正座(31)、第二校正座(32)、第三校正座(33)以及第四校正座(34)纵向移动。
4.根据权利要求1所述的一种高效多工位晶圆测试机,其特征在于:所述第一校正座(31)、第二校正座(32)、第三校正座(33)以及第四校正座(34)均包括底座(61)、转动设于底座(61)的载物盘(63)以及用于驱动载物盘(63)转动的电机(62)。
5.根据权利要求4所述的一种高效多工位晶圆测试机,其特征在于:所述第一测试机构(91)以及第二测试机构(92)均包括设于控制箱(71)、探针座(72)、用于驱动探针座(72)横向移动的第四横向移动组件(73)以及用于驱动探针座(72)升降的第二升降移动组件(74);
所述探针座(72)设有与控制箱(71)电性连接的正极探针(75);所述底座(61)设有与载物盘(63)连接的负极线。
6.根据权利要求1所述的一种高效多工位晶圆测试机,其特征在于:所述龙门架(11)设有第一打点机构(81)以及第二打点机构(82);所述第一打点机构(81)用于在第一校正座(31)与第二校正座(32)之间移动;所述第二打点机构(82)用于在第三校正座(33)与第四校正座(34)之间移动。
7.根据权利要求1所述的一种高效多工位晶圆测试机,其特征在于:所述机座(1)设有加热盘(14);所述机械手模组用于在上料架(12)、第一校正座(31)、第二校正座(32)、第三校正座(33)、第四校正座(34)、加热盘(14)以及下料架(13)之间移动。
8.根据权利要求1所述的一种高效多工位晶圆测试机,其特征在于:所述机座(1)设有待确认盒(15);所述机械手模组用于在上料架(12)、第一校正座(31)、第二校正座(32)、第三校正座(33)、第四校正座(34)、待确认盒(15)以及下料架(13)之间移动。
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