[实用新型]一种积分球测试装置有效
申请号: | 202222090226.8 | 申请日: | 2022-08-09 |
公开(公告)号: | CN217819294U | 公开(公告)日: | 2022-11-15 |
发明(设计)人: | 骆乾峰;赵龙;金从龙;刘思;王春风;陈龙 | 申请(专利权)人: | 江西兆驰半导体有限公司 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00;G01M11/02 |
代理公司: | 南昌旭瑞知识产权代理事务所(普通合伙) 36150 | 代理人: | 彭琰 |
地址: | 330000 江西省南昌市南*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 积分 测试 装置 | ||
本实用新型提供了一种积分球测试装置,该积分球测试装置包括:测试装置本体、调节机构、固定机构;测试装置本体上设有固定组件,固定组件包括固定框架以及固定支架,固定支架包括两限位梁以及固定限位块,限位梁的一端设有夹持部,固定限位块连接积分球,并通过两相对的夹持部的夹持固定积分球;固定机构包括锁止件,锁止件用于固定待测治具;调节机构包括移动组件以及调节组件,通过移动组件驱动调节组件至预设位置,并通过调节组件调节固定机构至待测试位置,以使待测治具运动至待测试位置对待测治具上的LED芯片进行测试,本实用新型能够解决现有技术中积分球不便于更换,无法对不同尺寸的LED芯片进行测试的技术问题。
技术领域
本实用新型涉及光学测试技术领域,具体涉及一种积分球测试装置。
背景技术
发光二级管(light-emitting diode,LED),是一种常用的发光器件,通过电子与空穴复合释放能量发光,发光二极管可高效地将电能转化为光能,在现代社会具有广泛的用途,如照明、平板显示、医疗器件等。通常为了检测LED产品的质量问题,都需要在LED生产后需要进行光衰和寿命检测。
目前比较常见的LED光衰和寿命的检测一般将LED芯片置于治具上,采用积分球测试装置对治具上的LED芯片进行测试,但是目前的积分球测试装置的积分球不便于更换,无法对不同尺寸的LED芯片进行测试,兼容范围较小。
因此,现有的积分球测试装置普遍存在积分球不便于更换,无法对不同尺寸的LED芯片进行测试的技术问题。
实用新型内容
针对现有技术的不足,本实用新型的目的在于提供一种积分球测试装置,旨在解决现有技术中积分球不便于更换,无法对不同尺寸的LED芯片进行测试的技术问题。
本实用新型在于提供一种积分球测试装置,所述积分球测试装置包括:
测试装置本体、设于所述测试装置本体上的调节机构,以及设于所述调节机构上的固定机构;
所述测试装置本体上设有固定组件,所述固定组件包括固定框架以及与所述固定框架活动连接的固定支架,所述固定支架包括两可相对运动的限位梁以及与所述限位梁设置方向垂直的固定限位块,其中,所述限位梁的一端设有弧形的夹持部,另一端活动连接于所述固定框架上,所述固定限位块的一端活动连接于所述固定框架上,所述固定限位块远离所述固定框架的一端连接至用于测试待测治具上的LED芯片的积分球,并通过两相对的夹持部的夹持固定积分球;
其中,所述固定机构用于固定待测治具,所述固定机构包括锁止件,所述锁止件用于固定待测治具;
所述调节机构用于调节待测治具至一预设的待测试位置对待测治具上的 LED芯片进行测试,所述调节机构包括移动组件以及设于移动组件之上的调节组件,所述锁止件设于所述调节组件上,通过所述移动组件驱动所述调节组件进行往复移动,带动所述调节组件至预设位置,并通过所述调节组件调节固定机构至待测试位置,以使所述待测治具运动至所述待测试位置对待测治具上的 LED芯片进行测试。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果在于:通过本实用新型提供的积分球测试装置,在测试装置本体上设有固定组件,固定组件包括固定框架以及与固定框架活动连接的固定支架,固定支架包括两相对设置的限位梁以及与限位梁设置方向垂直的固定限位块,其中,限位梁的一端设有弧形的夹持部,另一端活动连接于固定框架上,固定限位块的一端活动连接于固定框架上,积分球与所述固定限位块远离所述固定框架的一侧连接,并通过两相对的夹持部的夹持固定,通过调节限位梁以及固定限位块的位置,以适应不同尺寸的积分球,适用于不同尺寸的治具进行测试,兼容性较大,从而解决了现有技术中积分球不便于更换,无法对不同尺寸的LED芯片进行测试的技术问题。
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