[实用新型]食品中有害元素快检设备

说明书

本实用新型公开了一种食品中有害元素快检设备，包括：安装架；样品杯，用于容置待测样品，并可拆卸地设置在所述安装架上，所述待测样品的待测面与水平方向相垂直；射线源，其出射端与所述待测面相对设置；以及探测器，其探测端与所述待测面相对设置。本实用新型射线源和探测器能够通过侧照方式代替下照方式进行检测工作，当待测样品遇到突发情况而脱离样品杯时，待测样品在重力作用下不会落至射线源和/或探测器上，避免射线源和/或探测器破损和表面污染，降低维护成本。

技术领域

本实用新型涉及食品检测设备技术领域，特别涉及中食品中有害元素快检设备。

背景技术

近年来随着医学的发展，人们逐渐意识到铝、铅等有害元素对身体的危害性，例如世界卫生组织和联合国粮农组织于1989年正式将铝确定为食品污染物而加以控制，我国也制定了面制食品中铝的限量卫生标准为不超过100mg/kg。X射线荧光分析(XRF)技术具有成本低、速度快、非破坏式检测、多元素同时测量、操作方便的优势，且基于XRF技术的仪器通常体积小、重量轻、便于携带和实现自动化，因此，在固体、液体等类型样品的成分检测中得到了越来越多的应用，该方法也可用于食品中有害元素的快速检测。

XRF分析仪器都需要对待测样品进行一定的前处理，然后将待测样品放入仪器专用的样品杯中，并将装有样品的样品杯放入仪器的进样口，接着启动X射线源发射X射线照射样品，并采用专门的探测器进行数十秒到几百秒的数据收集，最后对收集得到的数据进行计算，得出待测样品中的元素含量。然而，常规的XRF分析仪器普遍采用下照式激发，即样品杯放入分析仪器后，分析仪器的X射线源向上射出并照射在待测样品的下表面，用于接收待测样品中荧光信号的探测器也位于样品杯下方。这类分析仪器所采用的样品杯都是同样的结构形式，即一端开口，放入样品，然后用分析薄膜封口，再倒扣过来放入分析仪器中，薄膜朝下，样品依靠自身重力聚集在分析薄膜上。

受分析薄膜结构影响，在检测过程中，分析薄膜存在破裂的情况，当分析薄膜破裂时，样品易在重力作用下落在探测器的窗口上，从而造成窗口污染，且由于该窗口的厚度是微米级别，非常脆弱，清理十分不便，很容易造成窗口的损坏，探测器的窗口损坏后无法维修，只能更换探测器，更换成本非常昂贵。

因此，有必要对现有技术予以改良以克服现有技术中的所述缺陷。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种食品中有害元素快检设备，以降低探测器受污染和破损概率。

本实用新型的目的是通过以下技术方案实现：一种食品中有害元素快检设备，包括：安装架；样品杯，用于容置待测样品，并可拆卸地设置在所述安装架上，所述待测样品的待测面与水平方向相垂直；射线源，其出射端与所述待测面相对设置；以及探测器，其探测端与所述待测面相对设置。

进一步地，所述安装架包括沿着水平方向贯通的收容腔，所述收容腔具有远离所述射线源和/或所述探测器的入口侧以及靠近所述射线源和/或所述探测器的出口侧，所述样品杯可经所述入口侧装入所述收容腔，且所述样品杯具有所述待测样品的一端自所述出口侧伸出。

进一步地，所述样品杯远离所述待测样品的一端外周设有凸部，当所述样品杯安装至预设位置后，所述凸部与所述入口侧相抵。

进一步地，所述安装架与所述样品杯通过磁吸方式相固定。

进一步地，所述凸部朝向所述入口侧的一面上设有导磁件，所述入口侧设置有与所述凸部磁性连接的磁性件。

进一步地，所述射线源和所述探测器分设于所述样品杯的两侧，所述射线源的射出方向与竖直方向相垂直，所述探测器的探测方向与竖直方向相垂直。

进一步地，所述射线源的射出方向与所述待测面之间的夹角不大于20°。