[实用新型]转塔式分选机的分料装置及转塔式分选机

说明书

本实用新型提供一种转塔式分选机的分料装置及转塔式分选机，转塔式分选机的分料装置包括外壳、沿前后方向抽拉式连接于所述外壳内的抽拉盒、设置于所述抽拉盒内且沿前后方向排列的多个料桶；位于后端的最后一个料桶为用于储放预设bin值的芯片的预置料桶；所述分料装置还包括设于所述抽拉盒与所述外壳之间的止位组件，所述止位组件用以在所述抽拉盒拉出至位于所述预置料桶前侧的其他料桶均向外暴露后，限制所述抽拉盒进一步拉出；在不改变转塔式分选机的现有布置，且在无需升级软件的情况下，实现所述预置料桶的DNR(Do Not Retest)功能。

技术领域

本实用新型涉及半导体封装测试领域，尤其涉及一种转塔式分选机的分料装置及转塔式分选机。

背景技术

测试分选机目前是半导体的重要测试设备，可实现半导体多项技术指标测试及优劣分类的工作。其中，转塔式分选机因其占地面积小，精度高，速度高等优点被广泛使用。

转塔式分选机是一种主电机在中心，各个测试工位按照工序均布在主电机周围的一种测试分选机。半导体器件随着主电机每一步的旋转被送到各个测试工位进行加工测试，最后被送到包装工位包装成产品或者被送至分料装置中进行分类。

具体地，在分料装置中一般设有多个分类盒。在完成针对批量芯片的半导体性能测试后，根据测试结果将批量芯片划分为不同等级，然后将待分料芯片储存至对应的分类盒内。但是，部分客户对指定不良品分Bin有管控要求，需要单独放置并按指定流程处置，即在生产过程中不可取出复测，为满足客户的特殊作业要求，需对现有机台进行升级改造。

但是，目前大量使用的转塔式分选机，多数机台使用已超10年，其改造本身存在软硬件限制，尤其是NIT机型，无软件支持无法新增模组，且仅能通过硬件改造实现DNR(DoNot Retest)功能。成本较大，且改造较难。

有鉴于此，有必要提供一种新的转塔式分选机的分料装置及转塔式分选机以解决上述问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种转塔式分选机的分料装置及转塔式分选机，可以在不改变转塔式分选机的现有布置，且在无需升级软件的情况下，实现分料装置中的料桶的DNR(Do Not Retest)功能。

为实现上述实用新型目的，本实用新型采用如下技术方案：一种转塔式分选机的分料装置，包括外壳、沿前后方向抽拉式连接于所述外壳内的抽拉盒、设置于所述抽拉盒内且沿前后方向排列的多个料桶；位于后端的最后一个料桶为用于储放预设bin值的芯片的预置料桶；所述分料装置还包括设于所述抽拉盒与所述外壳之间的止位组件，所述止位组件用以在所述抽拉盒拉出至位于所述预置料桶前侧的其他料桶均向外暴露后，限制所述抽拉盒进一步拉出。

作为本实用新型进一步改进的技术方案，所述止位组件包括：

导杆，所述导杆设于所述外壳上且沿前后方向延伸；

滑块，所述滑块固设于所述抽拉盒上，所述滑块上具有穿孔，所述导杆穿设于所述穿孔内；

止位件，所述止位件可拆卸连接于所述导杆上，且位于所述滑块的前侧，在所述抽拉盒拉出至所述滑块抵持于所述止位件上时，限制所述抽拉盒进一步拉出。

作为本实用新型进一步改进的技术方案，所述抽拉盒包括盒本体、设于所述盒本体的前侧的把手，所述滑块设于所述把手上；所述导杆自所述外壳的前端向前延伸。

作为本实用新型进一步改进的技术方案，所述导杆上设有止位孔，所述止位件为与所述止位孔相配合的挂锁。

作为本实用新型进一步改进的技术方案，所述导杆的突伸长度设置为：在所述抽拉盒进一步拉出时，所述滑块脱离所述导杆。

作为本实用新型进一步改进的技术方案，所述止位组件包括沿上下方向间隔设置的至少两个所述导杆，所述滑块上具有与至少两个所述导杆一一对应的至少两个所述穿孔。