[实用新型]一种光电子器件测试设备

说明书

本实用新型公开了一种光电子器件测试设备，属于光电子器件测试技术领域，包括测试箱体，测试箱体内部有上下设置的高温区和低温区，高温区与低温区之间设有隔板，隔板上开设有多个呈圆周分布的贯穿孔；低温区内设有多个呈圆周分布的托板，托板上方有与其相对设置的盖板，托板与盖板之间通过支撑杆进行固定连接，支撑杆沿竖直方向穿设在贯穿孔内；托板和盖板的外部均设有台阶部，台阶部上套设有密封圈；托板底部均与升降杆固定连接，升降杆呈圆周分布在固定杆的周围。本实用新型提供的测试设备，可以实现高温区与低温区之间的有效密封，降低待测样品在转换过程中热能和冷能的损耗，可以用于同步测试多组样品，提高测试的效率。

技术领域

本实用新型涉及一种光电子器件测试设备，属于光电子器件测试技术领域。

背景技术

光电子器件是光电子技术的关键和核心部件，是现代光电技术与微电子技术的前沿研究领域，是信息技术的重要组成部分。光电子器件是根据光电效应制作的器件。

光电子器件在制作过程中需要进行机械完整性试验，试验项目包括机械冲击、变频振动、热冲击、插拔耐久性、存储试验、温度循环、恒定湿热以及高温寿命等，其中的温度循环试验是为了确定光电子器件承受极高温度和极低温度的能力，以及极高温度和极低温度交替变化对光电子器件的影响。

温度循环试验需要用到冷热冲击测试设备对待测样品进行冷热交替测试，现有的冷热冲击测试设备由制冷系统、加热系统、控制系统、空气循环系统、温度传感器等组成。工作时通过控制吊篮的升降，达到待测样品在高温区与低温区之间的快速转换，从而实现冷热循环交替。

通过吊篮将待测样品在高温区与低温区之间转换，难以保证高温区与低温区之间的密封，高温区的热能易进入低温区，低温区的冷能易进入高温区，热能和冷能会有损耗，使得加热系统、制冷系统的功率较大，导致整体设备的耗能较大；另外通过吊篮将待测样品在高温区与低温区之间转换，每次只能测试一组样品，测试的效率偏低。

综上可知，现有技术在实际使用上显然存在不便与缺陷，所以有必要加以改进。

实用新型内容

本实用新型针对背景技术中的不足，提供一种光电子器件测试设备，可以实现高温区与低温区之间的有效密封，降低待测样品在转换过程中热能和冷能的损耗，可以用于同步测试多组样品，提高测试的效率。

为解决以上技术问题，本实用新型采用以下技术方案：

一种光电子器件测试设备，包括测试箱体，测试箱体内部有上下设置的高温区和低温区，高温区与低温区之间设有隔板，所述隔板上开设有多个呈圆周分布的贯穿孔，贯穿孔由两个呈上下对称设置的圆台孔组成；

所述低温区内设有多个呈圆周分布的托板，托板上方有与其相对设置的盖板，托板与盖板之间通过支撑杆进行固定连接，支撑杆沿竖直方向穿设在贯穿孔内；所述托板和盖板的外部均设有台阶部，托板的台阶部上套设有下密封圈，盖板的台阶部上套设有上密封圈；

所述托板底部均与升降杆固定连接，升降杆呈圆周分布在固定杆的周围，升降杆和固定杆之间有平行设置的上连杆和下连杆，上连杆和下连杆之间设有升降气缸。

一种优化方案，两个圆台孔的小径端相连接，两个圆台孔的大径端分布在隔板的表面以及底面上。

进一步地，所述支撑杆的数量为多个，分布在托板和盖板的边缘位置。

进一步地，所述托板与盖板之间设有用于放置待测试的光电子器件的空间。

进一步地，所述上密封圈和下密封圈呈对称设置；所述上密封圈和下密封圈均为三角型密封圈，截面呈现三角形状。

进一步地，所述固定杆沿竖直方向固接于低温区内，固定杆底端与低温区底部的壁板固定连接，固定杆顶端与隔板固定连接。