[实用新型]一种光电子器件测试设备

权利要求书

1.一种光电子器件测试设备，包括测试箱体（1），测试箱体（1）内部有上下设置的高温区（2）和低温区（3），高温区（2）与低温区（3）之间设有隔板（4），其特征在于：所述隔板（4）上开设有多个呈圆周分布的贯穿孔（9），贯穿孔（9）由两个呈上下对称设置的圆台孔组成；

所述低温区（3）内设有多个呈圆周分布的托板（5），托板（5）上方有与其相对设置的盖板（7），托板（5）与盖板（7）之间通过支撑杆（8）进行固定连接，支撑杆（8）沿竖直方向穿设在贯穿孔（9）内；所述托板（5）和盖板（7）的外部均设有台阶部，托板（5）的台阶部上套设有下密封圈（10），盖板（7）的台阶部上套设有上密封圈（11）；

所述托板（5）底部均与升降杆（12）固定连接，升降杆（12）呈圆周分布在固定杆（13）的周围，升降杆（12）和固定杆（13）之间有平行设置的上连杆（14）和下连杆（15），上连杆（14）和下连杆（15）之间设有升降气缸（16）。

2.如权利要求1所述的一种光电子器件测试设备，其特征在于：两个圆台孔的小径端相连接，两个圆台孔的大径端分布在隔板（4）的表面以及底面上。

3.如权利要求1所述的一种光电子器件测试设备，其特征在于：所述支撑杆（8）的数量为多个，分布在托板（5）和盖板（7）的边缘位置。

4.如权利要求1所述的一种光电子器件测试设备，其特征在于：所述托板（5）与盖板（7）之间设有用于放置待测试的光电子器件（6）的空间。

5.如权利要求1所述的一种光电子器件测试设备，其特征在于：所述上密封圈（11）和下密封圈（10）呈对称设置；所述上密封圈（11）和下密封圈（10）均为三角型密封圈，截面呈现三角形状。

6.如权利要求1所述的一种光电子器件测试设备，其特征在于：所述固定杆（13）沿竖直方向固接于低温区（3）内，固定杆（13）底端与低温区（3）底部的壁板固定连接，固定杆（13）顶端与隔板（4）固定连接。

7.如权利要求1所述的一种光电子器件测试设备，其特征在于：所述上连杆（14）一端与升降杆（12）铰接，上连杆（14）另一端与固定杆（13）铰接；所述下连杆（15）一端与升降杆（12）铰接，下连杆（15）另一端与固定杆（13）铰接。

8.如权利要求1所述的一种光电子器件测试设备，其特征在于：所述升降气缸（16）的尾部与固定杆（13）铰接连接，升降气缸（16）的头部与下连杆（15）的一端部上方铰接连接。

9.如权利要求1所述的一种光电子器件测试设备，其特征在于：所述托板（5）与升降杆（12）同轴设置。