[实用新型]一种感光芯片检测治具

说明书

本实用新型公开了一种感光芯片检测治具，涉及芯片测试技术领域，包括盖子组件和测试座组件，所述盖子组件上设置有镜头固定模组，所述镜头固定模组内设置有镜头，所述镜头与镜头固定模组可转动连接，使得镜头在镜头固定模组内可上下移动。本申请中通过调节焦距满足感光芯片聚焦调整测试，镜头尺寸兼容性好，焦距自由调整简单方便，测试稳定、正确率高。本申请中。申请采用双层密封的设置，可避免光源发出的光外泄，也能消除外界光对测试的干扰，提高了测试的准确率。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种感光芯片检测治具。

背景技术

感光芯片是数码摄像头的重要组成部分，根据元件不同分为：CCD(电荷耦合元件)和CMOS(金属氧化物半导体元件)。

现有的芯片检测治具根据芯片感光焦距不同需要选择不同焦距的芯片检测治具，如需检测不同型号的感光芯片则需要配备多个不同的芯片检测治具，这样成本高，且多个芯片检测治具需要占据很大的空间。

实用新型内容

为克服上述缺点，本实用新型的目的在于提供一种可以调节感光焦距、可以适用于不同型号的芯片的感光芯片检测治具。

为了达到以上目的，本实用新型采用的技术方案是：一种感光芯片检测治具，包括盖子组件和测试座组件，所述盖子组件和测试座组件配合形成感光芯片测试环境，并对感光芯片进行测试，所述盖子组件上设置有镜头固定模组，所述镜头固定模组内设置有镜头，所述镜头与镜头固定模组可转动连接，使得镜头在镜头固定模组内可上下移动，旋转镜头用于调节镜头的焦距。所述镜头用于收集光线，通过调整焦距满足芯片的检测，针对不用的芯片可以通过更换镜头和镜头固定模组上与镜头配合的螺纹来满足不同条件的镜头适配。

进一步的是：所述盖子组件包括盖子，所述盖子的上端面上设置有用于放置镜头固定模组的放置槽，所述放置槽用于放置镜头固定模组，所述放置槽的中心为中空的，用于供光线通过，所述盖子远离镜头的一侧设置有用于压感光芯片的压台，所述压台用于压感光芯片，使得感光芯片与探针接触，形成测试回路，所述盖子组件还包括盖子框架，所述盖子框架用于固定盖子，同时给盖子提供支撑，在盖子组件与测试座组件压合时所述压台穿过盖子框架伸入到测试座组件内，此时盖子的下端面与盖子框架的上端面紧密贴合，形成第一密封部，同时所述压台下压至感光芯片的顶部，形成第二密封部。本申请采用双层密封的设置，可避免光源发出的光外泄，也能消除外界光对测试的干扰，提高了测试的准确率。

进一步的是：所述盖子和盖子框架铰接连接。

进一步的是：所述测试座组件包括测试座本体，所述测试座本体与盖子框架固定连接，所述测试座本体的上端面上设置有凹槽，所述凹槽的中心位置处设置有感光芯片槽，所述感光芯片槽用于放置感光芯片，所述凹槽内设置有感光芯片固定器，所述感光芯片固定器用于定位感光芯片，防止感光芯片跑偏，所述感光芯片固定器的中心位置处设置有通孔，所述通孔与感光芯片槽的位置对应。

进一步的是：所述测试座组件还包括设置在感光芯片槽内的探针，所述探针穿过感光芯片槽，所述测试座本体的下方设置有用于固定探针的保持器，所述保持器上与探针的对应位置处设置有用于固定探针的固定孔，所述探针用于在感光芯片测试时收集感光芯片的测试信号。

进一步的是：所述盖子框架、测试座本体和保持器通过螺栓固定连接。

进一步的是：所述盖子开合的一侧上设置有卡钩，所述测试座本体上与卡钩的对应侧上设置有卡槽，卡钩卡在卡槽内将盖子和测试座本体卡合，使得本测试治具内部形成密闭的空间，给感光芯片测试提供密闭环境。

本实用新型的有益效果是，本申请中通过调节焦距满足感光芯片聚焦调整测试，镜头尺寸兼容性好，焦距自由调整简单方便，测试稳定、正确率高。本申请采用双层密封的设置，可避免光源发出的光外泄，也能消除外界光对测试的干扰，提高了测试的准确率。

附图说明

图1为本实用新型一实施例的整体结构示意图；