[实用新型]一种用于测量显示屏的过孔的电阻值的测量装置

说明书

本实用新型公开了一种用于测量显示屏的过孔的电阻值的测量装置，由于其在电阻值测量时已经排除了金属层和ITO层的电阻值的影响，得到的电阻值为过孔的精确的电阻值，且得到的电阻值的平均值可避免制造工艺等微小误差带来的影响，测量的电阻值最接近过孔的真实电阻值，以此将得出的正确的过孔电阻值以指导项目评估和实际生产，不会影响液晶显示模组的性能，避免导致液晶显示模组显示异常和损坏，从而提高了液晶显示模组的良品概率，降低了液晶显示模组的生产成本，提高了液晶显示模组的竞争力，以此满足生产企业日益增长的品质要求。

技术领域

本实用新型涉及一种液晶显示模组测量装备领域，更具体地说，涉及一种用于测量显示屏的过孔的电阻值的测量装置。

背景技术

传统的液晶显示模组中通常设置有金属走线和ITO，金属走线与ITO之间的连接通常采用过孔连接，在实际使用过程中，过孔也存在一定的电阻值，过孔的电阻值需要精确地测量出来，从而为项目评估和实际生产提供一定的理论依据和参考。但是现有的测量装置和测量方法对过孔的电阻值的测量准确度并不高，经过实验和研究发现，测量准确度不高的原因是因为测量出的过孔电阻值实际上包含了金属走线的电阻值，将得出的错误的过孔电阻值以指导项目评估和实际生产，可能会影响液晶显示模组的性能，严重时还可能导致液晶显示模组显示异常和损坏，从而降低了液晶显示模组的良品概率，提高了液晶显示模组的生产成本，降低了液晶显示模组的竞争力，无法满足生产企业日益增长的品质要求。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是如何精确测量过孔的电阻值。由于本实用新型提供的测量装置在电阻值测量时已经排除了金属层和ITO层的电阻值的影响，得到的电阻值为过孔的精确的电阻值，且得到的电阻值的平均值可避免制造工艺等微小误差带来的影响，测量的电阻值最接近过孔的真实电阻值，以此将得出的正确的过孔电阻值以指导项目评估和实际生产，不会影响液晶显示模组的性能，避免导致液晶显示模组显示异常和损坏，从而提高了液晶显示模组的良品概率，降低了液晶显示模组的生产成本，提高了液晶显示模组的竞争力，以此满足生产企业日益增长的品质要求。

本实用新型所要解决的技术问题通过以下技术方案予以实现：

为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种用于测量显示屏的过孔的电阻值的测量装置，其包括ITO层和多个金属层，多个所述金属层均设于所述ITO层的上方且呈阵列分布，多个所述金属层至少包括第一金属层、第二金属层、第三金属层和第四金属层，所述第一金属层和所述第二金属层为同一种金属层，所述第三金属层和所述第四金属层为同一种金属层，所述第一金属层、第二金属层、第三金属层和第四金属层均分别通过过孔与所述ITO层导通，所述ITO层的两端和每个所述金属层的两端均分别连接有两个测量端子。

作为本实用新型提供的所述用于测量显示屏的过孔的电阻值的测量装置的一种优选实施方式，所述第一金属层和第二金属层均为sd金属。

作为本实用新型提供的所述用于测量显示屏的过孔的电阻值的测量装置的一种优选实施方式，所述第三金属层和第四金属层均为gate金属。

作为本实用新型提供的所述用于测量显示屏的过孔的电阻值的测量装置的一种优选实施方式，所述第一金属层、第二金属层、第三金属层和第四金属层的形状均为L型或正方形。

作为本实用新型提供的所述用于测量显示屏的过孔的电阻值的测量装置的一种优选实施方式，所述第一金属层、第二金属层、第三金属层和第四金属层依次布设于所述ITO层的边缘。

作为本实用新型提供的所述用于测量显示屏的过孔的电阻值的测量装置的一种优选实施方式，所述ITO层连接有温度测量装置。

作为本实用新型提供的所述用于测量显示屏的过孔的电阻值的测量装置的一种优选实施方式，所述温度测量装置连接有电源控制装置。

作为本实用新型提供的所述用于测量显示屏的过孔的电阻值的测量装置的一种优选实施方式，所述温度测量装置连接有报警装置。