[实用新型]一种MCU的ATE设备及其系统

说明书

本实用新型公开一种MCU的ATE设备，用于对待测芯片进行测试，包括：电源管理模块、测试机台、通信模块及测试板；所述测试板包括主控板，所述待测芯片设置在所述主控板上进行测试；所述电源管理模块与测试机台及测试板连接，用于提供相应的电源、激励信号和电压；所述通信模块设置在所述测试机台与所述测试板之间，所述测试机台与所述测试板通过所述通信模块进行数据往来。本实用新型还公开了包括所述MCU的ATE设备的MCU的ATE系统。该ATE设备及系统能够提高芯片检测的效率，降低检测成本。

技术领域

本实用新型涉及一种芯片测试设备，具体涉及一种MCU的ATE设备及其系统。

背景技术

MCU芯片是一个包含多个芯片的集合体，用户对该类芯片进行测试时，需要对其各个组件进行测试来达到预期的效果，即需要采用不同的测试程序来对相应的组件进行测试。ATE(Automatic Test Equipment，自动化测试设备)是一种由高性能计算机控制的测试仪器的集合体，由测试仪器和计算机组合而成。通常，计算机通过运行测试程序的指令来对芯片进行测试。半导体芯片测试设备是检测集成电路的功能和性能的完整性，是集成电路生产制造流程中确保集成电路品质的重要设备。MCU的ATE设备最基本的要求是能保证测试功能的快速性、可靠性和稳定性。并且，在芯片测试过程中，测试的通用性是非常重要的，若对不同类型的芯片进行测试时，每测一个芯片就需要更换一次流程，一次只能测试一个，测试效率低下，通用性不高。

实用新型内容

根据本实用新型的一个方面，提供了一种MCU的ATE设备，用于对待测芯片进行测试，包括：电源管理模块、测试机台、通信模块及测试板；所述测试板包括主控板，所述待测芯片设置在所述主控板上进行测试；所述电源管理模块与测试机台及测试板连接，用于提供相应的电源、激励信号和电压；所述通信模块设置在所述测试机台与所述测试板之间，所述测试机台与所述测试板通过所述通信模块进行数据往来。该ATE设备能够提高芯片检测的效率，降低检测成本。

本实用新型的另一方面，所述通信模块包括串口通信接口，所述测试机台设置发送TX引脚及接收RX引脚，所述发送TX引脚及接收RX引脚分别与待测芯片的接收RX引脚、发送TX引脚相连接。

本实用新型的另一方面，所述串口通信接口为UART口。

本实用新型的另一方面，所述通信模块包括并口通信接口，所述主控板上设有多个待测芯片，所述主控板通过所述并口通信接口对所述多个待测芯片进行独立测试。并口通信接口的设置，能使所述ATE设备兼容市面上多种类型通用MCU，并且能同时对多颗芯片同时进行测试。

本实用新型的另一方面，所述并口通信接口为GPIO口。

本实用新型的另一方面，所述测试机台包括计算机。

本实用新型的另一方面，所述主控板上设置有socket座，所述待测芯片放置在socket座上，通过所述socket座与所述主控板电连接。

本实用新型的另一方面，还提供了一种MCU的ATE系统，包括如上所述的MCU的ATE设备和检测单元。

本实用新型的另一方面，所述MCU的ATE系统还包括检测单元，所述检测单元连接于主控板与待测芯片之间，用于检测待测芯片的功耗。

本实用新型的另一方面，所述检测单元为手持万用表。

附图说明

图1为本实用新型一种MCU的ATE设备一种实施方式的原理示意图；

图2为所述MCU的ATE设备另一实施方式的数据传输示意图；

图3为所述MCU的ATE设备另一实施方式的工作原理示意图；

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作进一步详细的说明。

实施方式一