[实用新型]一种多级降频器有效
| 申请号: | 202220945268.2 | 申请日: | 2022-04-22 |
| 公开(公告)号: | CN217406518U | 公开(公告)日: | 2022-09-09 |
| 发明(设计)人: | 刘文通 | 申请(专利权)人: | 刘文通 |
| 主分类号: | H03K23/74 | 分类号: | H03K23/74 |
| 代理公司: | 深圳市鼎智专利代理事务所(普通合伙) 44411 | 代理人: | 张小晶 |
| 地址: | 473000 河南省南*** | 国省代码: | 河南;41 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 多级 降频器 | ||
本实用新型公开了一种多级降频器,包括分频电路及和所述分频电路连接的多级降频电路,所述分频电路滤噪整波后,变成平衡的时钟数字信号,再依次经过所述多级降频电路,把原来的时钟信号按照2平分法降低到设备的测试能力范围内。所述分频电路包括有源时钟信号频率分频电路、差分时钟信号频率分频电路、无源时钟信号频率分频电路的一种。所述多级降频电路包括多个D触发器,多个D触发器通过降频方式连接形成多级降频电路。本实用新型的多级降频器用的电子元件小,进而PCBA板大小可以减小,PCBA板便于安装在测试架上,待测试的时钟信号经过放大,整波滤噪后变成平稳的数字波,便于设备测试捕捉,误差小。
技术领域
本实用新型涉及ICT测试技术领域,具体的说是涉及一种多级降频器。
背景技术
在传统的ICT测试技术中,是利用分频芯片测试,而这种测试方式受外界干扰比较大,测试的结果不稳定,尤其无源振荡器的测试,大部分情况都是无法测试的。
因此,有必要对传统的ICT测试技术进行改进。
实用新型内容
针对现有技术中的不足,本实用新型要解决的技术问题在于提供了一种多级降频器,设计该多级降频器的目的是将测试的时钟信号经过放大,整波滤噪后变成平稳的数字波,便于设备测试捕捉,误差小。
为解决上述技术问题,本实用新型通过以下方案来实现:本实用新型的一种多级降频器,包括分频电路及和所述分频电路连接的多级降频电路,所述分频电路滤噪整波后,变成平衡的时钟数字信号,再依次经过所述多级降频电路,把原来的时钟信号按照2平分法降低到设备的测试能力范围内。
进一步的,所述分频电路包括有源时钟信号频率分频电路、差分时钟信号频率分频电路、无源时钟信号频率分频电路的一种。
更进一步的,所述有源时钟信号频率分频电路包括JP1接插元件、第一继电器KA1、电容CA1、电容CA2、电阻RA1、电阻RA2、电阻RA3、电阻RA4以及高速逻辑门芯片UA5,所述第一继电器KA1具有第一常开脚和第二常开脚,所述第一继电器KA1的两个线圈脚并联有电容CA1,所述第一继电器KA1其中一个线圈脚接地,其另一个线圈脚连接所述电阻RA1,所述电阻RA1的另一端接入3.3V电源,所述第一继电器KA1的两个公共脚通过所述第一继电器 KA1的两个常闭脚使所述JP1接插元件的FA_INPUT脚连接所述JP1接插元件的FA_OUT脚,能够通过切换开关与所述FA_OUT脚连接的第一常开脚接F_DIV电路,第二常开脚接至所述电容CA2的一端,所述电容CA2的另一端分别接至所述高速逻辑门芯片UA5的输入端I1脚和所述电阻RA2的一端,所述电阻RA2的另一端分别连接所述电阻RA3、电阻RA4,所述电阻RA3 的另一端接地,所述电阻RA4的另一端接入3.3V电源,所述高速逻辑门芯片UA5的输出脚接 F_ORI电路。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于刘文通,未经刘文通许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202220945268.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种顶部拉环式桶
- 下一篇:一种基于深基坑预应力锚索二次张拉的防护装置





