[实用新型]一种多个发光LED颜色的测试电路

说明书

本实用新型公开了一种多个发光LED颜色的测试电路，包括2路MCU控制系统，该2路MCU控制系统的电路结构相同，其中，第一主控MCU U1为CMOS微控制器，其分别控制数据采集的第一数模转换器U2和第二数模转换器U4，以及第一逻辑控制器U3，所述第一逻辑控制器U3的输出端连接有多组第一颜色传感器，所述第一主控MCU U1通过I2C协议控制U3的其中一路电路导通，通过SPI协议控制U2和U4。本实用新型的测试电路通过双MCU控制系统控制，大提高了测试效率，且提高了通道扫描速度和由于时差造成待测模拟信号的连续性。本实用新型把颜色传感器芯片和控制电路部分芯片分别布局在两片电路板上，两电路板侧面连接，LED光线从侧面进入采光口。

技术领域

本实用新型涉及LED颜色测试电路，具体的说是涉及一种多个发光LED颜色的测试电路。

背景技术

现有技术中，测试LED的颜色主要有：

1.测试单个LED颜色测试,通过RGB颜色感应芯片换算电压，频率模拟信号；

2.同时测试多个LED颜色的,通过RGB数据转换为CIExy色坐标、波长，色温，色相，饱和度，亮度等数字信号表现出来。

上述的两种测试颜色的测试电路有以下缺陷：

1.测试单个LED的，在生产实用中效率低，耗时久。

2.同时测试多个LED方式的，虽然测试效率提高了，但测试的表现出的参数太多，有些参数没有太大的意义，同时对测试环境要求高，误差太大，又不稳定，给实用者带来误导困扰。除此之外价格又高，提高了经济成本。在使用时，需要通过R232 COM口或USB协议控制，数据都是数字数据表现的，但对于ICT设备测试平台，模拟数据更方便测试操作，带来不便。

3.数字信号表现出的能测试多个LED的设计，硬件设计通常用MCU芯片并行通讯控制感光芯片，这样要求的MCU的脚数比较多，增加了MCU成本。

4.感光芯片和控制电路芯片设计在一张PCB上，在插入光纤后，占用的空间的高度增加，因在ICT测试平台，测试架的底座为标准套件，高度比较小，极不利于放置。

实用新型内容

针对现有技术中的不足，本实用新型要解决的技术问题在于提供了一种多个发光LED颜色的测试电路，设计该测试电路的目的提高测试效率。

为解决上述技术问题，本实用新型通过以下方案来实现：本实用新型的一种多个发光LED颜色的测试电路，包括2路MCU控制系统，该2路MCU控制系统包括：

第一MCU控制电路，包括第一主控MCU U1、第一数模转换器U2、第二数模转换器U4和第一逻辑控制器U3，所述第一主控MCU U1为CMOS微控制器，其分别控制并连接有用于数据采集的第一数模转换器U2、用于数据采集的第二数模转换器U4以及第一逻辑控制器U3，所述第一逻辑控制器U3的输出端连接有多组第一颜色传感器，所述第一主控MCU U1通过I2C协议控制所述第一逻辑控制器U3的其中一路电路导通，同时，所述第一主控MCU U1通过I2C协议分别提取所述多组第一颜色传感器产生的第一RGB数据，所述第一主控MCU U1分别处理所述多组第一颜色传感器产生的第一RGB数据，并将处理后的第一RGB数据通过SPI协议传输给所述第一数模转换器U2和所述第二数模转换器U4，所述第一数模转换器U2和所述第二数模转换器U4将接收到的第一RGB数据转换成模拟电压信号输出；