[实用新型]一种扩晶夹具有效
申请号: | 202220725552.9 | 申请日: | 2022-03-29 |
公开(公告)号: | CN217641279U | 公开(公告)日: | 2022-10-21 |
发明(设计)人: | 许明生;徐虎 | 申请(专利权)人: | 徐州芯思杰半导体技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/687 | 分类号: | H01L21/687 |
代理公司: | 深圳智汇远见知识产权代理有限公司 44481 | 代理人: | 聂磊 |
地址: | 221001 江苏省徐州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 夹具 | ||
本实用新型公开了一种扩晶夹具,所述扩晶夹具可放置于扩晶机的扩晶平台上,所述扩晶夹具包括夹具本体、第一扩晶内环、第一扩晶外环和第二扩晶外环,所述夹具本体包括第一扩晶部和第二扩晶部,所述第一扩晶部与所述第二扩晶部连接,所述第一扩晶内环可嵌于所述第一扩晶部且抵接所述第二扩晶部,所述第一扩晶外环和第二扩晶外环均可嵌于所述第二扩晶部。本实用新型结构简单、可进行二次扩晶。
技术领域
本实用新型涉及芯片加工技术领域,具体地涉及一种扩晶夹具。
背景技术
蓝膜作为芯片解理后较为常见且应用广泛的一种固定方式。人工目检后高温烘烤会导致蓝膜收缩,到达排片工序后需要对蓝膜二次扩晶来提高蓝膜张力。现有的扩晶机只能做一次扩晶,通常是将蓝膜放置于扩晶机的扩晶平台上,之后放置一个扩晶环,然后通过挤压设备下压扩晶环,使得扩晶环嵌于扩晶平台的边缘,从而实现蓝膜的拉伸,二次扩晶需要手动扩晶,手动二次扩晶时因蓝膜受力点不一致,手动扩晶存在扩偏、爆膜、边缘拉伸不整齐的风险。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种结构简单、可实现二次扩晶的扩晶夹具。
为解决上述技术问题,本实用新型采用的一个技术方案是:提供一种扩晶夹具,所述扩晶夹具可放置于扩晶机的扩晶平台上,所述扩晶夹具包括夹具本体、第一扩晶内环、第一扩晶外环和第二扩晶外环,所述夹具本体包括第一扩晶部和第二扩晶部,所述第一扩晶部与所述第二扩晶部连接,所述第一扩晶内环可嵌于所述第一扩晶部且抵接所述第二扩晶部,所述第一扩晶外环和第二扩晶外环均可嵌于所述第二扩晶部。
作为优选方案,所述第一扩晶部呈圆形。
作为优选方案,所述第二扩晶部呈圆形。
作为优选方案,所述第一扩晶内环呈圆环型。
作为优选方案,所述第一扩晶内环的内径尺寸与所述第一扩晶部的直径尺寸相同。
作为优选方案,所述第一扩晶内环的外径尺寸与所述第二扩晶部的直径尺寸相同。
作为优选方案,所述第一扩晶外环呈圆环型,所述第一扩晶外环的内径尺寸与所述第二扩晶部的直径尺寸相同。
作为优选方案,所述第二扩晶外环呈圆环型,所述第二扩晶外环的内径尺寸与所述第二扩晶部的直径尺寸相同。
作为优选方案,所述夹具本体还包括底座部,所述底座部与所述第二扩晶部连接。
作为优选方案,所述扩晶平台包括第三扩晶部,所述底座部设有镶嵌槽,所述第三扩晶部可嵌入所述镶嵌槽内。
本实用新型提供的扩晶夹具,扩晶夹具可放置于扩晶机的扩晶平台上,扩晶夹具包括夹具本体、第一扩晶内环、第一扩晶外环和第二扩晶外环,夹具本体包括底座部、第一扩晶部和第二扩晶部,第二扩晶部与底座部连接,第一扩晶部与第二扩晶部连接,第一扩晶内环可嵌于第一扩晶部且抵接第二扩晶部,第一扩晶外环和第二扩晶外环可嵌于第二扩晶部且抵接底座部。本实用新型在进行一次扩晶时,将蓝膜放置于现有扩晶机的扩晶平台上,再将第一扩晶内环嵌于第一扩晶外环内侧后整体放置于蓝膜上,然后通过现有扩晶机的挤压设备进行挤压使得第一扩晶内环、第一扩晶外环和蓝膜形成一个整体,完成一次扩晶。当需要进行二次扩晶时,将扩晶夹具放置于现有扩晶机的扩晶平台上,将第一扩晶内环、第一扩晶外环和蓝膜整体放置于扩晶夹具的第一扩晶部上,使得第一扩晶内环嵌于第一扩晶部,第一扩晶外环位于第一扩晶内环的外侧,再将第二扩晶外环对准第一扩晶外环放置,然后通过现有扩晶机的挤压设备进行挤压,此时第一扩晶内环受挤压向下会抵接第二扩晶部,抵接后不发生移动,第二扩晶外环受挤压向下移动下压第一扩晶外环,使得第一扩晶外环向下移动,在此过程中蓝膜再次受到拉伸。本实用新型结构简单,在不影响现有扩晶机工作的情况下,随时可以拆卸安装,并且解决了手动扩晶存在的扩偏、爆膜、拉伸不整齐的问题,可在现有扩晶机上实现二次扩晶,提高了设备利用率提高生产效率。
附图说明
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造