[实用新型]一种用于测量电极极高的装置有效

专利信息
申请号: 202220462096.3 申请日: 2022-03-04
公开(公告)号: CN216745845U 公开(公告)日: 2022-06-14
发明(设计)人: 于晓光;姚立广;董国斌;张世亮;刘豫东;文巍 申请(专利权)人: 沈阳中科惠友科技发展有限责任公司
主分类号: G01B5/06 分类号: G01B5/06
代理公司: 沈阳晨创科技专利代理有限责任公司 21001 代理人: 张晨
地址: 110000 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 测量 电极 极高 装置
【权利要求书】:

1.一种用于测量电极极高的装置,其特征在于:所述装置由基准底座(1)、纵向导轨支柱(2)、滑块(3)、导轨固定螺丝(4)、纵向精密滚珠导轨(5)、纵向精密滚珠导轨滑块(6)、横向精密滚珠导轨(7)、横向精密滚珠导轨滑块(8)、数显高度尺(9)组成,其中:

所述基准底座(1)设有四个,均匀分布在装置底部的四角;在每个基准底座(1)中心区域上均垂直安装有一个纵向导轨支柱(2);纵向导轨支柱(2)上安装有滑块(3),在滑块(3)的外侧设有导轨固定螺丝(4);

纵向精密滚珠导轨(5)设有两条,每条纵向精密滚珠导轨(5)的两端分别插入一个滑块(3)中,从而将纵向精密滚珠导轨(5)安装在相邻的两个纵向导轨支柱(2)之间,每条纵向精密滚珠导轨(5)上均设有一个纵向精密滚珠导轨滑块(6);横向精密滚珠导轨(7)的两端分别固定在两个纵向精密滚珠导轨滑块(6)的上表面;在横向精密滚珠导轨(7)上安装有一个横向精密滚珠导轨滑块(8);

横向精密滚珠导轨滑块(8)上固定有数显高度尺(9),高度柱(91)穿过数显高度尺(9)内部,在高度柱(91)底部安装有测量基准圆盘(92)。

2.按照权利要求1所述用于测量电极极高的装置,其特征在于:所述纵向导轨支柱(2)侧壁设有导轨槽。

3.按照权利要求1所述用于测量电极极高的装置,其特征在于:所述纵向导轨支柱(2)侧壁设有刻度尺。

4.按照权利要求1所述用于测量电极极高的装置,其特征在于:所述数显高度尺(9)量程为0-100mm,精度为0.01mm;高度柱(91)直径为2 mm -4mm,高度为200 mm -300mm;测量基准圆盘(92)直径为20 mm -40mm,厚度为5 mm -10mm。

5.按照权利要求1所述用于测量电极极高的装置,其特征在于:

基准底座(1)长度为90 mm -120 mm,宽度为30 mm -50 mm,高度为10 mm -20mm;

纵向导轨支柱(2)截面长度为60 mm -80 mm,截面宽度为60 mm -80 mm,高度为190 mm-210mm;

滑块(3)、纵向精密滚珠导轨滑块(6)和横向精密滚珠导轨滑块(8)内部中空部分的尺寸均为:长30 mm -50 mm、宽30 mm -50 mm、高70 mm -90mm,壁厚10-15mm;

导轨固定螺丝(4)中螺帽直径为50 mm -70 mm,螺杆长为10 mm -30mm;

纵向精密滚珠导轨(5)截面长度为30 mm -50 mm,截面宽度为30 mm -50 mm,长度为300 mm -1500mm;

横向精密滚珠导轨(7)截面长度为30 mm -50 mm,截面宽度为30 mm -50 mm,长度为300 mm -1500mm。

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