[实用新型]一种三坐标测量用支架有效

专利信息
申请号: 202220461684.5 申请日: 2022-03-03
公开(公告)号: CN216731510U 公开(公告)日: 2022-06-14
发明(设计)人: 宿俊强;关现辉;杨志勇;王永富 申请(专利权)人: 固安汉飞思科精密机械制造有限公司
主分类号: B25B11/00 分类号: B25B11/00
代理公司: 天津市鼎拓知识产权代理有限公司 12233 代理人: 刘雪娜
地址: 065500 河*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 一种 坐标 测量 支架
【说明书】:

本申请提供一种三坐标测量用支架,包括底座和与底座支撑面垂直连接的第一支撑组件和第二支撑组件;第一支撑组件包括用于支撑薄壁零件的第一支撑杆和用于连接底座支撑面和第一支撑杆的第一连接部,第二支撑组件包括用于支撑薄壁零件的第二支撑杆和用于连接底座支撑面和第二支撑杆的第二连接部;所述测量用支架还设有用于调整所述测量用支架水平度的水平调整装置和用于调整所述薄壁零件垂直度的横向调整装置。本申请结构简单、操作便捷,实现了在同一基准下完成薄壁零件待测量部位加工尺寸及形位公差的测量,大大降低了测量结果误差,使得测量结果能够反应薄壁零件的实际尺寸及精度,而且测量过程不再翻转薄壁零件,提高了测量效率。

技术领域

发明涉及辅助测量装置技术领域,特别涉及一种三坐标测量用支架。

背景技术

如图3所示的薄壁零件需要测量两个面的尺寸及形位公差,现有技术通常采用千斤顶3点支撑薄壁件的一个面,然后采用三坐标测量仪测量待测量部位的加工尺寸及形位公差,测量完毕后翻转薄壁零件用千斤顶3点支撑已完成测量的一面,用三坐标测量仪进行基准转换后再测量另一面待测量部位各位置的加工尺寸及形位公差。由于采用了中间基准,使得测量结果误差较大且不稳定,不能反映薄壁零件的实际尺寸及精度,而且二次翻转薄壁零件大大降低了测量效率。

发明内容

鉴于现有技术中的上述缺陷或不足,本申请旨在提供一种三坐标测量用支架,将待测量的薄壁零件放置到测量用支架上,可以统一测量基准,在同一基准下完成薄壁零件待测量部位加工尺寸及形位公差的测量,大大降低了测量结果误差,使得测量结果能够反应薄壁零件的实际尺寸及精度,而且测量过程不再翻转薄壁零件,提高了测量效率。

本申请提供一种三坐标测量用支架,与薄壁零件配合使用,所述薄壁零件包括第一侧和第二侧,所述第一侧沿第一方向设有第一凸出部和第三凸出部,所述第二侧沿与第一方向平行的方向设有第二凸出部和第四凸出部,所述测量用支架包括底座,所述底座设有支撑面,所述支撑面上设有第一支撑组件和第二支撑组件;

所述第一支撑组件包括用于支撑所述第三凸出部的第一支撑杆和用于连接所述支撑面和所述第一支撑杆的第一连接部;所述第一支撑杆与所述支撑面之间形成用于容纳所述第一凸出部的第一空间;

所述第二支撑组件包括用于支撑所述第四凸出部的第二支撑杆和用于连接所述支撑面和所述第二支撑杆的第二连接部;所述第二支撑杆与所述支撑面之间形成用于容纳所述第二凸出部的第二空间。

具体的,所述第一支撑面与所述第二支撑面位置高度相同,所述第二支撑杆与所述第二支撑面的距离大于所述第一支撑杆与所述第一支撑面的距离。

根据本申请实施例提供的技术方案,所述第一连接部包括分别与所述支撑面连接的第一支架和第二支架,所述第一支撑杆的两端分别与所述第一支架和所述第二支架的另一端可拆卸连接;所述第一支架与所述第二支架之间形成所述第一空间。

根据本申请实施例提供的技术方案,所述第二连接部包括分别与所述支撑面连接的第三支架和第四支架,所述第二支撑杆的两端分别与所述第三支架和所述第四支架的另一端可拆卸连接;所述第三支架与所述第四支架之间形成所述第二空间。

根据本申请实施例提供的技术方案,所述第一支撑杆两端设有分别与所述第一支架和所述第二支架顶部可拆卸连接的第一定位块;所述第二支撑杆两端设有分别与所述第三支架和所述第四支架顶部可拆卸连接的第二定位块。

根据本申请实施例提供的技术方案,所述第一连接部和/或所述第二连接部上设有用于调整所述薄壁零件垂直度的横向调整装置。

根据本申请实施例提供的技术方案,所述横向调整装置包括横向固定块和第一螺栓,所述横向固定块与所述第一连接部或所述第二连接部连接;所述第一螺栓一端活动贯穿所述横向固定块,并与所述薄壁零件抵接。

根据本申请实施例提供的技术方案,所述底座上设有用于调整所述测量用支架水平度的水平调整装置。

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