[实用新型]模组测试装置

说明书

本实用新型涉及一种模组测试装置。该模组测试装置包括：基座；承载架，所述承载架用于安装待测试模组；按压组件，所述按压组件包括按压件、测试安装座、第二弹性件和测试盖板，所述测试盖板连接于基座，测试安装座可移动地连接于测试盖板，测试安装座和测试盖板之间设置有第二弹性件；所述测试安装座带动所述按压件相对所述待测试模组移动，以对所述待测试模组进行测试；测试探针，所述测试探针用于与所述待测试模组接触并采集所述待测试模组在与所述按压件接触时产生的信号；护针组件，所述护针组件设置于所述基座，并用于在所述按压组件对所述待测试模组测试完成后使所述按压组件与所述待测试模组分离。该装置测试安全性更高，保护性更好。

技术领域

本实用新型涉及测试设备领域，特别是涉及一种模组测试装置。

背景技术

对于指纹模组而言，主要影响其品质的是指纹模组的TFT（Thin FilmTransistor，薄膜晶体管）模组的品质，为在生产过程中把控指纹模组的整体良率，需在生产过程中测试TFT模组具体品质数据。一种测试方式是使用探针接通TFT模组的PAD（焊盘），使用真空吸附方式稳住TFT模组，进而使用仿生物识别压头（例如假手指）进行模拟测试。这种测试方式在进行20x30大尺寸类型的TFT模组测试时，容易粘起TFT模组，导致TFT模组相对探针卡移动而损伤探针卡。

实用新型内容

有鉴于此，有必要提供一种模组测试装置，以解决现有的TFT模组测试时容易损伤探针卡的问题。

本实用新型提供的一种模组测试装置，其包括：基座；承载架，所述承载架用于安装待测试模组；按压组件，所述按压组件包括按压件、测试安装座、第二弹性件和测试盖板，所述测试盖板连接于基座，测试安装座可移动地连接于测试盖板，测试安装座和测试盖板之间设置有第二弹性件；所述测试安装座带动所述按压件相对所述待测试模组移动，以对所述待测试模组进行测试；测试探针，所述测试探针用于与所述待测试模组接触并采集所述待测试模组在与所述按压件接触时产生的信号；护针组件，所述护针组件设置于所述基座，并用于在所述按压组件对所述待测试模组测试完成后使所述按压组件与所述待测试模组分离。

如此设置，该模组测试装置的基座用于安装承载架、按压组件和防黏组件等。承载架用于放置待测试模组并对其进行定位。按压组件用于对待测试模组进行测试。

测试探针用于与待测试模组接触，收集待测试模组产生的信号，以根据该信号确定待测试模组是否能够正常工作。由于在待测试模组与按压组件接触和分离的过程中，按压组件会对待测试模组施加作用力，如在两者分离时按压组件可能会黏起待测试模组而使得其相对测试探针运动，进而可能会对测试探针造成损坏，因此为了防止损坏测试探针，在基座上设置护针组件，利用护针组件使得在按压组件与待测试模组分离的过程中向待测试模组施加使其与按压组件分离的作用力，从而防止待测试模组受到按压组件的影响而相对测试探针移动，以此保护测试探针，提升测试探针的使用寿命，从而减少测试成本。

在其他实施方式中，承载架可相对基座移动，护针组件包括探针防护组件，探针防护组件设置在基座上，在承载架带动待测试模组向测试探针运动过程中，探针防护组件在测试探针之前压紧待测试模组，以防止待测试模组向测试探针传递振动。

如此设置，可以对测试探针进行防护。

在其他实施方式中，探针防护组件包括压紧件和第三弹性件，压紧件可移动地连接于基座，第三弹性件抵接于压紧件，并在压紧件与待测试模组接触时向压紧件施加朝向待测试模组的作用力。

如此设置，可以防止待测试模组振动并提供缓冲。

在其他实施方式中，探针防护组件还包括探针防护安装座，探针防护安装座固定连接于基座，第三弹性件的第一端与探针防护安装座配合，第三弹性件的第二端与压紧件配合。

如此设置，可以可靠安装压紧件。