[实用新型]一种集成电路用测试装置

权利要求书

1.一种集成电路用测试装置，包括测试仪(1)，其特征在于：所述测试仪(1)的顶部通过轴销铰接有凹形板(2)，所述凹形板(2)的内部滑动连接有滑套(3)，所述滑套(3)的底端穿过凹形板(2)并延伸至凹形板(2)的底部固定连接有收纳套(4)，所述收纳套(4)内壁的顶部通过轴销铰接有挡板(5)，所述收纳套(4)内壁的底部固定连接有垫板(6)，所述垫板(6)的左侧通过魔术贴与挡板(5)粘合，所述滑套(3)的左侧固定连接有拉簧(7)，所述拉簧(7)的左端固定连接在凹形板(2)的内部，所述凹形板(2)顶部的前侧与后侧均通过轴销铰接有T形杆(8)，所述滑套(3)顶部的前端与后端均开设有开口(9)，所述T形杆(8)的底端延伸至开口(9)的内部，所述测试仪(1)的右侧固定连接有位于收纳套(4)内部的橡胶套(10)。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路用测试装置，其特征在于：所述测试仪(1)右侧的顶部与底部均固定连接有卡杆(11)，所述收纳套(4)滑动套接在卡杆(11)的表面。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路用测试装置，其特征在于：所述凹形板(2)的顶部固定连接有限位套(12)，所述限位套(12)滑动套接在T形杆(8)的表面。

4.根据权利要求1所述的一种集成电路用测试装置，其特征在于：所述凹形板(2)内腔的前侧与后侧均横向固定连接有滑杆(13)，所述滑套(3)滑动套接在滑杆(13)的表面。

5.根据权利要求3所述的一种集成电路用测试装置，其特征在于：所述限位套(12)的顶部与凹形板(2)的底部均固定连接有海绵垫(14)，所述海绵垫(14)的底部与测试仪(1)的顶部接触。

6.根据权利要求1所述的一种集成电路用测试装置，其特征在于：所述挡板(5)的左侧与T形杆(8)的右侧均固定连接有拉板(15)，所述橡胶套(10)表面的形状为凸形。