[实用新型]一种MCU输入IO口同步硬件失效检测电路

说明书

本实用新型公开了一种MCU输入IO口同步硬件失效检测电路，包括控制芯片、按键模块、逻辑芯片和控制开关；按键模块连接所述控制芯片；逻辑芯片连接所述控制芯片和所述按键模块；控制开关连接所述逻辑芯片；所述控制开关连接所述控制芯片的复位引脚RST，通过所述控制开关的开或闭控制所述控制芯片的复位引脚RST的电位变化。本实用新型实施例通过设置逻辑芯片，且逻辑芯片分别连接按键模块和控制芯片，即逻辑芯片可以同时监测按键模块的按键输入和控制芯片的赋值输出，并结合两者的值进行逻辑判断，在控制芯片检测按键输入的引脚出现故障时，能及时控制控制芯片的复位引脚RST的电平进行复位，进而禁止控制芯片对外接硬件输出，避免事故发生。

技术领域

本实用新型涉及安全类电控电路技术领域，尤其涉及一种MCU输入IO口同步硬件失效检测电路。

背景技术

随着科技越来越发达，很多制造技术都用上了自动化，然而自动化必然涉及到编程并通过MCU对外接设备进行控制，包括开启、关闭和设置参数等等。

其中包括了直接软件控制，主要是通过检测输入装置、如按键方波信号等进行电机的控制；

在检测输入端硬件(主要指MCU)失效时，其他的外围(外接)硬件无法检测到，在外围硬件出现故障的时候，容易导致危险事故的发生。

例如，在电机发生堵转或者伤人时，按键检测接口I/O失效，导致不能及时停机，从而导致电机烧毁或者人员的重伤。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种MCU输入IO口同步硬件失效检测电路，旨在解决现有技术中，MCU输入IO口同步硬件失效导致事故容易发生的问题。

本实用新型实施例提供了一种MCU输入IO口同步硬件失效检测电路，包括：

控制芯片；

按键模块，连接所述控制芯片，所述按键模块用于在开或闭时为所述控制芯片提供不同状态下的按键输入，所述控制芯片用于检测所述按键输入并根据所述按键输入对输出进行赋值获得赋值输出；

逻辑芯片，连接所述控制芯片和所述按键模块，所述逻辑芯片用于根据所述按键输入和赋值输出，进行逻辑判断并输出逻辑结果；

控制开关，连接所述逻辑芯片，所述控制开关用于根据所述逻辑结果进行开或闭操作；

其中，所述控制开关连接所述控制芯片的复位引脚RST，通过所述控制开关的开或闭控制所述控制芯片的复位引脚RST的电位变化。

本实用新型实施例通过设置逻辑芯片，且逻辑芯片分别连接按键模块和控制芯片，即逻辑芯片可以同时监测按键模块的按键输入和控制芯片的赋值输出(赋值输出为控制芯片根据按键输入进行逻辑判断后的输出，在控制芯片检测按键输入的引脚出现故障时，赋值输出相应的也会出现异常)，并结合两者的值进行逻辑判断，在控制芯片检测按键输入的引脚出现故障时，能及时控制控制芯片的复位引脚RST的电平进行复位，进而禁止控制芯片对外接硬件输出，避免事故发生。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例提供的MCU输入IO口同步硬件失效检测电路的信号传输框图；

图2为本实用新型实施例提供的MCU输入IO口同步硬件失效检测电路的电路图。

具体实施方式