[实用新型]一种芯片测试装置

说明书

本实用新型公开了一种芯片测试装置，包括主板和用于安装被测试芯片的芯片安装板，所述主板上设有安装座、处理器单元和显示单元，所述芯片安装板和安装座可拆卸连接，所述处理器单元依次通过安装座和芯片安装板与被测试的芯片连接，所述处理器单元还与所述显示单元连接。本实用新型的芯片安装板和主板可拆卸连接，针对不同芯片只需要设计对应的芯片安装板，且可以从显示单元读取测试结果，从而实现对不同型号的芯片进行测试，并且不通过上位机来直接显示测试结果。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试领域，尤其涉及一种芯片测试装置。

背景技术

为了避免故障芯片被焊接于集成电路上，导致集成电路出现问题，耗费人力物力进行返修。在将芯片安装至集成电路之前一般对芯片进行测试，目前的芯片测试设备仅能够测试特定的某一种芯片，但是集成电路中往往包含多种芯片，因此需要多种芯片测试设备才能够测试这些芯片。此外，目前的芯片测试设备需要通过上位机来读取测试结果。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题：针对现有技术的上述问题，提供一种芯片测试装置，能够对不同型号的芯片进行测试，同时可以直接显示测试结果。

为了解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案为：

一种芯片测试装置，包括主板和用于安装被测试芯片的芯片安装板，所述主板上设有安装座、处理器单元和显示单元，所述芯片安装板和安装座可拆卸连接，所述处理器单元依次通过安装座和芯片安装板与被测试的芯片连接，所述处理器单元还与所述显示单元连接。

进一步的，所述显示单元包括与被测试芯片的引脚一一对应的LED灯，所述芯片安装板设有与被测试芯片的引脚一一对应的插针，所述安装座包括与所述插针一一对应的插孔，所述插针插设于对应的插孔中，且依次通过对应的插孔和处理器单元，与对应的LED灯电连接。

进一步的，所述主板上还设有电压转换单元和第一通断控制单元，所述电压转换单元的输入端通过第一通断控制单元和外部电源连接，所述电压转换单元的输出端连接处理器单元的供电端，所述电压转换单元的输出端还通过所述芯片安装板连接被测试芯片的供电端。

进一步的，所述主板上还设有驱动单元，所述处理器单元通过驱动单元和显示单元连接，以增加处理器单元的驱动能力。

进一步的，所述主板上还设有数据转换单元和TYPE C接口，所述TYPE C接口通过数据转换单元和处理器单元连接。

进一步的，所述数据转换单元和处理器单元之间还设有第二通断控制单元。

进一步的，所述主板上还设有第一调试接口和第二调试接口，所述第一调试接口和处理器单元的调试端连接，所述第二调试接口通过芯片安装板和被测试芯片的调试端连接。

进一步的，所述述主板上还设有第一时钟单元，所述第一时钟单元和处理器单元的时钟端连接。

进一步的，所述芯片安装板上设有芯片座和第二时钟单元，所述第二时钟单元通过芯片座和被测试芯片的时钟端连接。

进一步的，所述显示单元还包括芯片电源指示灯，所述芯片电源指示灯通过芯片座和被测试芯片的供电端连接。

和现有技术相比，本实用新型具有下述优点：

1.本实用新型的芯片安装板和主板可拆卸连接，因此针对不同芯片只需要设计对应的芯片安装板，而保持主板不变，从而对于集成电路不同种类的芯片测试节约了成本，另外本实用新型还在主板上设置了显示单元，从而可以直接显示测试结果，而不需要在上位机获取。

2.本实用新型的显示单元采用与被测试芯片的引脚一一对应的LED灯，从而节约了成本，并且可以直观了解每个引脚的测试情况，并能够准确定位故障的芯片存在问题的引脚。

附图说明

图1为本实用新型实施例的结构图。