[实用新型]用于实现双头锯超短料切割及料高测量的结构

权利要求书

1.用于实现双头锯超短料切割及料高测量的结构，其特征在于，包括设置在固定锯头内侧的短料定位机构和设置在活动锯头内侧的料高测量机构；

所述短料定位机构包括立座A，所述立座A上纵向设有定位驱动气缸，所述定位驱动气缸上设有定位挡板；

所述料高测量机构，包括立座B，所述立座B上竖向设有测料高导轨，所述测料高导轨上设有滑块，所述滑块上设有测料高板，所述立座B上竖向设有与测料高板连接的测料高气缸，所述立座B与测料高板之间设有磁栅式传感器。

2.根据权利要求1所述的用于实现双头锯超短料切割及料高测量的结构，其特征在于，所述立座A包括底板A、上板A、前板A和一侧板A，所述定位驱动气缸设置在侧板A上，所述前板A上设有供定位挡板通过的开口A。

3.根据权利要求2所述的用于实现双头锯超短料切割及料高测量的结构，其特征在于，所述立座B包括底板B、上板B、前板B和一侧板B，所述测料高导轨竖向设置在侧板B上，所述侧板B上设有气缸安装座，所述测料高气缸设置在气缸安装座上，所述上板B上设有避让孔，所述前板B上设有供测料高板竖向移动的开口B。

4.根据权利要求3所述的用于实现双头锯超短料切割及料高测量的结构，其特征在于，所述磁栅式传感器包括磁尺、磁头和检测电路，所述磁尺竖向设置在前板B内侧，所述磁头设置在磁尺上，所述磁头安装在测料高板上。

5.根据权利要求4所述的用于实现双头锯超短料切割及料高测量的结构，其特征在于，所述磁头两端分别设有清洁刷。