[发明专利]错误定位方法及装置、存储介质和处理器

说明书

本发明公开了一种错误定位方法及装置、存储介质和处理器。其中，该方法包括：获取待检测算法；对上述待检测算法进行程序分割，得到程序分割结果，其中，基于上述待检测算法中多个算法模块的不同功80FD得到上述程序分割结果；基于测试样本集合对上述程序分割结果进行测试，得到目标测试矩阵；将上述目标测试矩阵输入神经网络模型，得到错误定位结果。本发明解决了现有的错误定位方法精准度较低的技术问题。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，具体而言，涉及一种错误定位方法及装置、存储介质和处理器。

背景技术

基于频谱的错误定位方法提出了可疑值计算公式，但难以准确衡量失败和通过测试的贡献权重，对于大量表现出相同执行模式的语句，它们的可疑值完全相同，无法进一步区分检验的优先级。基于信息检索的错误定位方法大都只能将错误定位到源文件级的粗粒度，另外高质量的错误报告难以获取，导致该技术在实际应用场景中的有效性较差。

针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明实施例提供了一种错误定位方法及装置、存储介质和处理器，以至少解决现有的错误定位方法精准度较低的技术问题。

根据本发明实施例的一个方面，提供了一种错误定位方法，包括：获取待检测算法；对上述待检测算法进行程序分割，得到程序分割结果，其中，基于上述待检测算法中多个算法模块的不同功能得到上述程序分割结果；基于测试样本集合对上述程序分割结果进行测试，得到目标测试矩阵；将上述目标测试矩阵输入神经网络模型，得到错误定位结果。

可选的，上述对上述待检测算法进行程序分割，得到程序分割结果，包括：对上述待检测算法进行程序整理，确定算法模块，其中，每个上述算法模块包括至少一个源程序，每个上述算法模块对应一个算法功能；对上述算法模块进行编号处理，确定模块编号；对易错模块进行标注处理，确定标注信息，其中，上述易错模块基于样本数据确定；基于上述模块编号和上述标注信息，确定上述程序分割结果。

可选的，上述基于测试样本集合对上述程序分割结果进行测试，得到目标测试矩阵，包括：基于上述程序分割结果确定多个上述算法模块；采用测试样本集合中的多个测试用例分别对多个上述算法模块进行测试，得到多个一阶测试矩阵；基于上述多个一阶测试矩阵，确定上述目标测试矩阵。

可选的，上述采用测试样本集合中的多个测试用例分别对多个上述算法模块进行测试，得到多个一阶测试矩阵，包括：采用多个上述测试用例对多个上述算法模块进行测试，确定多个测试时间和多个测试结果，其中，每个上述算法模块对应一个上述测试时间和一个上述测试结果；基于上述多个测试时间将上述多个测试结果排列至一阶矩阵中，得到多个上述一阶测试矩阵，其中，每个上述算法模块的测试结果对应一个上述一阶测试矩阵。

可选的，上述基于上述多个一阶测试矩阵，确定上述目标测试矩阵，包括：确定上述多个一阶测试矩阵的列数最大值；将上述多个一阶测试矩阵中列数小于上述列数最大值的一阶测试矩阵的空位补零，得到目标一阶矩阵；基于多个上述目标一阶矩阵构建上述目标测试矩阵。

可选的，将上述目标测试矩阵输入神经网络模型，得到错误定位结果，包括：采用两层长短期记忆网络和一个激活函数构建全连接层；将上述目标测试矩阵输入上述全连接层，确定模块错误概率；基于上述模块错误概率，确定上述错误定位结果。

根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种错误定位装置，包括：获取模块，用于获取待检测算法；分割模块，用于对上述待检测算法进行程序分割，得到程序分割结果，其中，基于上述待检测算法中多个算法模块的不同功能得到上述程序分割结果；测试模块，用于基于测试样本集合对上述程序分割结果进行测试，得到目标测试矩阵；处理模块，用于将上述目标测试矩阵输入神经网络模型，得到错误定位结果。

根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种非易失性存储介质，上述非易失性存储介质存储有多条指令，上述指令适于由处理器加载并执行任意一项上述的错误定位方法。