[发明专利]错误定位方法及装置、存储介质和处理器

权利要求书

1.一种错误定位方法，其特征在于，包括：

获取待检测算法；

对所述待检测算法进行程序分割，得到程序分割结果，其中，基于所述待检测算法中多个算法模块的不同功能得到所述程序分割结果；

基于测试样本集合对所述程序分割结果进行测试，得到目标测试矩阵；

将所述目标测试矩阵输入神经网络模型，得到错误定位结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述待检测算法进行程序分割，得到程序分割结果，包括：

对所述待检测算法进行程序整理，确定算法模块，其中，每个所述算法模块包括至少一个源程序，每个所述算法模块对应一个算法功能；

对所述算法模块进行编号处理，确定模块编号；

对易错模块进行标注处理，确定标注信息，其中，所述易错模块基于样本数据确定；

基于所述模块编号和所述标注信息，确定所述程序分割结果。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于测试样本集合对所述程序分割结果进行测试，得到目标测试矩阵，包括：

基于所述程序分割结果确定多个所述算法模块；

采用测试样本集合中的多个测试用例分别对多个所述算法模块进行测试，得到多个一阶测试矩阵；

基于所述多个一阶测试矩阵，确定所述目标测试矩阵。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述采用测试样本集合中的多个测试用例分别对多个所述算法模块进行测试，得到多个一阶测试矩阵，包括：

采用多个所述测试用例对多个所述算法模块进行测试，确定多个测试时间和多个测试结果，其中，每个所述算法模块对应一个所述测试时间和一个所述测试结果；

基于所述多个测试时间将所述多个测试结果排列至一阶矩阵中，得到多个所述一阶测试矩阵，其中，每个所述算法模块的测试结果对应一个所述一阶测试矩阵。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于所述多个一阶测试矩阵，确定所述目标测试矩阵，包括：

确定所述多个一阶测试矩阵的列数最大值；

将所述多个一阶测试矩阵中列数小于所述列数最大值的一阶测试矩阵的空位补零，得到目标一阶矩阵；

基于多个所述目标一阶矩阵构建所述目标测试矩阵。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，将所述目标测试矩阵输入神经网络模型，得到错误定位结果，包括：

采用两层长短期记忆网络和一个激活函数构建全连接层；

将所述目标测试矩阵输入所述全连接层，确定模块错误概率；

基于所述模块错误概率，确定所述错误定位结果。

7.一种错误定位装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取待检测算法；

分割模块，用于对所述待检测算法进行程序分割，得到程序分割结果，其中，基于所述待检测算法中多个算法模块的不同功能得到所述程序分割结果；

测试模块，用于基于测试样本集合对所述程序分割结果进行测试，得到目标测试矩阵；

处理模块，用于将所述目标测试矩阵输入神经网络模型，得到错误定位结果。

8.一种非易失性存储介质，其特征在于，所述非易失性存储介质存储有多条指令，所述指令适于由处理器加载并执行权利要求1至6中任意一项所述的错误定位方法。

9.一种处理器，其特征在于，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序被设置为运行时执行权利要求1至6中任意一项所述的错误定位方法。

10.一种电子设备，包括存储器和处理器，其特征在于，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行权利要求1至6中任意一项所述的错误定位方法。