[发明专利]芯片可测性设计的测试方法及测试平台

权利要求书

1.一种芯片可测性设计的测试方法，其特征在于，所述方法应用于测试平台，所述方法包括：

接收测试用例的执行文件对应的第一测试向量及辅助信息，所述第一测试向量是所述测试平台可识别的向量，所述辅助信息包括控制所述测试平台对被测芯片进行测试的指导信息；

测试所述被测芯片，包括：基于所述辅助信息，控制所述测试用例对应的激励信号输出到所述被测芯片的代码；获取所述被测芯片的代码输出的实际向量值；以及根据所述第一测试向量包括的预期向量值与所述实际向量值的比对结果确定测试结果；所述测试结果通过用例执行日志展示；

其中，所述第一测试向量是根据多个第二测试向量对应的测试向量解析数据得到，所述第二测试向量是原始的测试向量，所述多个第二测试向量包括不同语言编写的测试向量，所述辅助信息还包括每个第二测试向量与其他第二测试向量的差异信息，所述测试平台根据所述多个第二测试向量的公共信息生成，适配于软件仿真平台和硬件仿真平台。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述辅助信息，控制所述测试用例对应的激励信号输出到所述被测芯片的代码，包括：

在所述辅助信息中的测试周期驱动参数指示的时间点，输出所述激励信号到所述被测芯片的代码的输入接口，所述被测芯片的代码的输出接口输出所述实际向量值。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一测试向量包括的预期向量值与所述实际向量值的比对结果确定测试结果，包括：

在所述第一测试向量包括的预期向量值指示比对时，比对所述第一测试向量中预期向量值与所述辅助信息中的测试周期比对参数指示的时间点处的芯片管脚输出的实际向量值是否匹配；

在比对结果是该时间点处的实际向量值和预期向量值不匹配时，记录错误信息，所述错误信息包括该时间点对应的测试周期、该时间点处的实际向量值和预期向量值；

根据所述错误信息确定测试结果。

4.一种测试平台的生成方法，其特征在于，所述方法包括：

接收多个第二测试向量并分析得到每个第二测试向量对应的测试向量解析数据，所述第二测试向量是原始的测试向量；

分析所述测试向量解析数据，识别得到所述多个第二测试向量的公共信息；

根据所述公共信息生成测试平台，所述测试平台适配于软件仿真平台和硬件仿真平台；

根据每个第二测试向量对应的测试向量解析数据生成第一测试向量，所述第一测试向量是所述测试平台可识别的向量，所述第一测试向量在所述测试平台对被测芯片进行测试时使用；

根据每个第二测试向量和对应的测试向量解析数据生成至少一个执行文件，其中每个执行文件对应于至少一个测试用例，所述测试用例执行时，该测试用例的执行文件对应的至少一个第一测试向量及辅助信息依次输入到所述测试平台，所述辅助信息包括控制所述测试平台对所述被测芯片进行测试的指导信息以及各第二测试向量的差异信息；

其中，所述多个第二测试向量包括不同语言编写的测试向量。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述公共信息包括被测芯片的芯片管脚参数、时间参数、测试周期时间定义中的一种或多种。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述第一测试向量包括每个测试周期内，所述被测芯片的单向管脚的预期向量值和激励向量值以及双向管脚的预期/激励向量值。

7.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述多个第二测试向量包括标准测试接口语言STIL、波形生成语言WGL、测试描述语言TDL中的至少一种。