[发明专利]时间测量装置和时间测量方法

权利要求书

1.一种时间测量装置，包括：

延迟模块，其用于基于输入的参考时间信号和待测时间信号进行延迟操作，以对应生成参考延迟信号和待测延迟信号；

触发单元，其用于基于所述参考延迟信号和所述待测延迟信号，输出参考电平信号和待测电平信号；

统计单元，其用于对所述参考电平信号和所述待测电平信号分别进行电平统计，以得到参考电平统计结果和待测电平统计结果；以及

运算单元，其用于对所述参考电平统计结果和所述待测电平统计结果进行运算，以便根据运算结果确定待测时间时长。

2.根据权利要求1所述的时间测量装置，其中所述运算单元进一步用于：

对所述待测电平统计结果和所述参考电平统计结果进行除法运算，以得到所述待测电平统计结果和所述参考电平统计结果之间的第一比值结果；以及

根据所述第一比值结果和参考时间时长，计算得到待测时间时长。

3.根据权利要求1所述的时间测量装置，还包括：

步进计算单元，其用于将参考电平统计结果进行N等分操作，以得到步进计算结果；

所述运算单元进一步用于：

对所述待测电平统计结果和所述步进计算结果进行除法运算，以得到所述待测电平统计结果和所述步进计算结果之间的第二比值结果；以及

根据所述第二比值结果和参考时间的N等分时长，计算得到待测时间时长。

4.根据权利要求1所述的时间测量装置，其中

所述延迟模块包括由多个延迟单元组成的延迟链；以及

所述触发单元包括多个一级触发器和多个二级触发器，其中多个一级触发器与多个延迟单元一一对应连接，多个二级触发器与多个一级触发器一一对应连接。

5.根据权利要求1-4任一所述的时间测量装置，其中所述参考时间信号和待测时间信号串联输入所述延迟模块，并且所述时间测量装置还包括：

第一存储单元，其与所述统计单元连接，并用于存储参考电平统计结果；以及

第二存储单元，其与所述统计单元连接，并用于存储待测电平统计结果。

6.根据权利要求1-4任一所述的时间测量装置，其中所述延迟模块包括第一延迟链和第二延迟链，第一延迟链由多个第一延迟单元组成，第二延迟链由多个第二延迟单元组成，并且

所述第一延迟链用于基于输入的参考时间信号进行延迟操作，以生成参考延迟信号；

所述第二延迟链用于基于输入的待测时间信号进行延迟操作，以生成待测延迟信号。

7.根据权利要求6所述的时间测量装置，其中所述触发单元包括第一触发器组和第二触发器组，并且所述第一触发器组包括多个第一一级触发器和多个第一二级触发器，所述第二触发器组包括多个第二一级触发器和多个第二二级触发器；多个第一一级触发器与多个第一延迟单元一一对应连接；

多个第一二级触发器与多个第一一级触发器一一对应连接；

多个第二一级触发器与多个第二延迟单元一一对应连接；

多个第二二级触发器与多个第二一级触发器一一对应连接。

8.根据权利要求7所述的时间测量装置，其中所述统计单元包括：

第一统计电路，其与所述多个第一二级触发器的输出端连接，用于统计参考电平信号的高电平或低电平，以得到参考电平统计结果；以及

第二统计电路，其与所述多个第二二级触发器的输出端连接，用于统计待测电平信号的高电平或低电平，以得到待测电平统计结果。

9.根据权利要求6-8任一所述的时间测量装置，其中所述第一延迟单元的数量与所述第二延迟单元的数量相等或不相等。

10.根据权利要求9所述的时间测量装置，还包括：

计数单元，其用于基于参考时间信号来对输入的待测时间信号进行计数，以输出超出参考时间信号的整数倍周期的待测剩余信号；以及

所述第二延迟链进一步用于：

对输入的待测剩余信号进行延迟操作，以生成待测延迟信号。