[发明专利]一种求取全深度VTI各向异性体的求取方法和装置在审
申请号: | 202211653365.5 | 申请日: | 2022-12-22 |
公开(公告)号: | CN115857005A | 公开(公告)日: | 2023-03-28 |
发明(设计)人: | 李飞;申尽志;李建国;王静;曾鑫;何志豪;赵倩倩 | 申请(专利权)人: | 中油奥博(成都)科技有限公司 |
主分类号: | G01V1/28 | 分类号: | G01V1/28 |
代理公司: | 成都蓉创智汇知识产权代理有限公司 51276 | 代理人: | 王岩岩 |
地址: | 610000 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 求取 深度 vti 各向异性 方法 装置 | ||
1.一种求取全深度VTI各向异性体的方法,其特征在于,包括求取近地表VTI各向异性体的过程,具体步骤包括:
S1.获取本区双井微测井的井底检波器记录的若干个不同深度激发点的初至拾取,并建立单井微测井各向同性速度模型,经过射线追踪、走时正演和反演迭代求取近地表各向异性δ值和ε值;
S2.获取本区地面地震初至资料,根据地面地震初至资料进行层析反演得到近地表VTI各向异性介质速度模型,利用所述单井微测井各向同性速度模型对地面地震初至资料进行约束层析反演,得到近地表VTI各向同性介质微测井约束速度模型,根据所述近地表VTI各向异性介质速度模型和近地表VTI各向同性介质微测井约束速度模型求取表层速度差,根据所述表层速度差求取近地表VTI各向异性介质δ场;
S3. 根据所述近地表各向异性δ值与所述近地表各向异性ε值的对应关系,利用近地表VTI各向异性介质δ场求取近地表VTI各向异性介质ε场;
S4.由所述近地表VTI各向异性介质δ场与所述近地表VTI各向异性介质ε场得到近地表VTI各向异性体。
2.根据权利要求1所述的一种求取全深度VTI各向异性体的方法,其特征在于,S1的具体过程为:
采用两点间水平层状介质快速射线追踪方法,计算不同深度激发点到达邻井井底检波点直达波初至走时;
根据震中距方程和单井微测井各向同性速度模型,计算各向同性初始射线参数,并根据各向同性初始射线参数确定初始射线角度;
根据初始射线角度,利用弱各向异性近似公式更新各层各向异性速度;
根据震中距方程迭代计算射线路径,并根据直达波初至走时与各层入射角度和各层各向异性速度的关系,得到初始的各向异性δ和ε参数;
根据直达波初至走时进行走时正演,拟合实际初至曲线,利用实际初至曲线修正初始的各向异性δ和ε参数;得到修正的各向异性δ和ε参数;
根据修正的各向异性δ和ε参数,更新各层各向异性速度,再反演迭代至直达波初至走时误差最小,得到近地表各向异性δ值和ε值。
3.根据权利要求1所述的一种求取全深度VTI各向异性体的方法,其特征在于,步骤S2-步骤S3之间还包括步骤:
判断本区双井微测井开展覆盖率是否达到预设标准;
若达到预设标准,则执行步骤S3;
若未达到预设标准,则利用本区双井微测井求取的所述近地表各向异性δ值对步骤S2中求取的近地表VTI各向异性介质δ场进行质控和平滑校正,得到校正后的近地表VTI各向异性介质δ场;
根据所述近地表各向异性δ值与所述近地表各向异性ε值的对应关系,利用校正后的近地表VTI各向异性介质δ场求取近地表VTI各向异性介质ε场。
4.根据权利要求1所述的一种求取全深度VTI各向异性体的方法,其特征在于,还包括求取中深层VTI各向异性体的过程,具体步骤包括:
获取本区井地联采方案的资料;根据本区井地联采方案的资料求取中深层VTI各向异性介质δ值和ε值;
利用中深层VTI各向异性介质δ值和ε值沿地质层位插值平滑,得到中深层VTI各向异性介质δ场与ε场;
由中深层VTI各向异性介质δ场与ε场,得到中深层VTI各向异性体。
5.根据权利要求4所述的一种求取全深度VTI各向异性体的方法,其特征在于,还包括求取全深度VTI各向异性体的过程:
根据近地表VTI各向异性体和中深层VTI各向异性体,得到全深度VTI各向异性体。
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