[发明专利]制备目标应用中的至少一种被测量对象的光谱确定的方法在审

专利信息
申请号: 202211645901.7 申请日: 2022-12-20
公开(公告)号: CN116413219A 公开(公告)日: 2023-07-11
发明(设计)人: 费利西娅·赛希特;安德烈亚斯·拜尔;蒂洛·克拉齐穆尔 申请(专利权)人: 恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司
主分类号: G01N21/25 分类号: G01N21/25
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 戚传江;穆森
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 制备 目标 应用 中的 至少 一种 测量 对象 光谱 确定 方法
【权利要求书】:

1.一种用于制备要借助于光谱仪在预定类型的应用的目标应用中执行的介质(3)的至少一个被测量对象的光谱确定的制备方法,其中:

基于参考数据(D)确定具有所述被测量对象的光谱分布特性的归一化被测量对象主光谱(M),所述参考数据(D)包括记录在所述目标应用中和/或诸如所述目标应用的相同类型的应用的应用中的所述被测量对象的参考光谱和相关联的参考值,

基于所述被测量对象主光谱(M),合成光谱(E)被生成,每个合成光谱(E)包括基于所述被测量对象主光谱(M)为所述被测量对象的特定单独值(mi)生成的单独光谱(Ejn),其中,所述单独光谱(Ejn)的所述单独值(mi)总体上覆盖大于或等于或实际上大于由所述参考值覆盖的值范围的值范围,并且

基于所述合成光谱(E),在所述目标应用中执行所述被测量对象的所述光谱确定所需的一条或多条信息(IF)被确定并可用,

其中,所述一条或多条信息(IF)尤其包括用于适用于在所述目标应用中执行所述被测量对象的所述光谱确定的光谱仪的光学路径长度(L)的属性、波长范围(Δλ)和/或路径长度范围(ΔL),和/或包括能够被使用在所述目标应用中的光谱仪(11)的计算规则(CM),利用所述计算规则能够基于能够在所述目标应用中利用该光谱仪(11)捕获的测量光谱(Agem(λ))确定所述被测量对象的测量值(Cgem)。

2.根据权利要求1所述的制备方法,其中:

在每种情况下,每个参考光谱的所述参考数据(D)包括记录相应参考光谱的所述光谱仪的光学路径长度(L);

所述参考光谱被归一化为相应被测量对象的参考值(mr)和所述光学路径长度(L)的参考值(Lr),并且

所述被测量对象主光谱(M)基于归一化的参考光谱被确定为归一化到所述被测量对象的参考值(mr)和所述光学路径长度(L)的参考值(Lr)的被测量对象主光谱(M)。

3.根据权利要求2所述的制备方法,其中,借助于基于归一化的参考光谱执行的平均值或中值形成来确定所述被测量对象主光谱(M),和/或使用至少一个光谱分解算法和/或用于平滑所述参考光谱和/或归一化的参考光谱的至少一个平滑滤波器来确定所述被测量对象主光谱(M)。

4.根据权利要求1至3所述的制备方法,其中,

所述被测量对象主光谱(M)和所述合成光谱(E)是吸收光谱,并且

所述单独光谱(Ejn)借助于在光谱吸收与所述被测量对象的值之间的线性关系被计算,或者各自基于反映光谱吸收与所述被测量对象的值之间的相关性的非线性计算规则被确定。

5.根据权利要求1至4所述的制备方法,其中,在下述方面考虑了在所述目标应用中出现的至少一个干涉变量,

对于每个要考虑的干涉变量,确定一个归一化的干涉主光谱(Sn),尤其是被归一化为相应干涉变量的参考值和所述光学路径长度(L)的参考值(Lr)的干涉主光谱(Sn),所述干涉主光谱(Sn)具有相应干涉变量的光谱分布特性,并且

所述合成光谱(E)包括单独光谱(Ej1;Ej3),所述单独光谱(Ej1;Ej3)是基于要考虑的每个干涉变量的所述被测量对象主光谱(M)和所述干涉光谱(Sn)确定的,并且所述单独光谱(Ej1;Ej3)考虑了所述干涉变量的影响。

6.根据权利要求1至5所述的制备方法,其中,在下述方面考虑了光学饱和:所述合成光谱(E)被生成使得它们包括考虑了所述光学饱和的单独光谱(Ej2)和/或考虑了所述光学饱和和要考虑的每个干涉变量的影响的单独光谱(Ej3)。

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