[发明专利]针对大规模静态缺陷检测的指针分析方法在审

专利信息
申请号: 202211636295.2 申请日: 2022-12-19
公开(公告)号: CN115858374A 公开(公告)日: 2023-03-28
发明(设计)人: 陈睿;贾春鹏;王峥;杨帆;丁戈;肖志恒;王博祥;于婷婷;高栋栋;刘璟炜 申请(专利权)人: 北京轩宇信息技术有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 101300 北京市顺义*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 针对 大规模 静态 缺陷 检测 指针 分析 方法
【权利要求书】:

1.针对大规模静态缺陷检测的指针分析方法,包括以下步骤:步骤一,解析被分析工程的源代码;步骤二,构造控制流图;步骤三,构造函数调用图;步骤四,对调用图进行拓扑排序;步骤五,执行符号化的局部指针分析;步骤六,完成全程序的指针分析;步骤七,提供指向信息;其特征在于:

其中在上述步骤一中,输入被分析工程的源代码,将其解析成抽象语法树(AST),并将AST进行标准化;

其中在上述步骤二中,在标准化后的程序中,为每个函数构造控制流图(CFG);

其中在上述步骤三中,构造函数调用图,对于直接调用,通过函数名字连接调用边;对于函数指针调用,通过函数的类型签名连接所有匹配的函数声明,并连接相应的调用边;

其中在上述步骤四中,对步骤三中所构造的调用图进行拓扑排序,得到拓扑序列;

其中在上述步骤五中,以逆向的方式,对步骤四中所得到的拓扑序列中的每个函数进行符号化的指针分析;

其中在上述步骤六中,当步骤五中每个函数的局部指针分析都完成时,可视为完成全程序的指针分析;

其中在上述步骤七中,指针分析信息供上层缺陷检测框架使用,以便进行缺陷定位。

2.根据权利要求1所述的针对大规模静态缺陷检测的指针分析方法,其特征在于:所述步骤一中,标准化后的程序中,每条语句最多只有一个副作用,即函数调用或赋值操作。

3.根据权利要求1所述的针对大规模静态缺陷检测的指针分析方法,其特征在于:所述步骤四中,对于调用图中出现的递归调用,去除调用图上环的回边。

4.根据权利要求1所述的针对大规模静态缺陷检测的指针分析方法,其特征在于:所述步骤五中,符号化的指针分析中,对所有形如“left=right”的指针赋值语句,计算right所访问的抽象内存的指向关系,并传播该指向关系到left所访问的抽象内存指向集合中。

5.根据权利要求1所述的针对大规模静态缺陷检测的指针分析方法,其特征在于:所述步骤五中,具体包括以下步骤:

5.1将语法树表达式转换为抽象内存访问表达式的函数定义如下:

T:Expr→AbsMemAccessExpr

抽象内存访问表达式可以用正则表达式表示成:v[fd]*,其中f表示字段访问,用“开始偏移量_结束偏移量”表示,d表示解引用,可以用“*”表示;

5.2抽象内存的指向关系可以表示成如下P函数,该函数表示,一个抽象内存访问表达式可能指向多个抽象内存表达式:

P:AbsMemAccessExpr→SetAbsMemAccessExpr;

5.3对于left=right:当前数据流的指向关系为Pin,则Pout表示语句执行后的指向关系,它的计算方法如下:

且/

如果|Pin(α)|=1,则Pout←Pin\{α,Pin(α)}

否则Pout←Pin∪(α,β);

5.4对于调用语句,取出被调用函数已经存储的指针分析的符号化摘要信息,并通过符号化参数替换的方式,完成被调用函数的快速分析,避免跨函数重复分析;

5.5利用数据流分析方法迭代地执行步骤5.3和5.4,传播指向关系,最多迭代两次,如果两次后仍未达到不动点,则完成分析;

5.6分析完一个函数时,对于非局部内存相关的指向关系,存储其符号化指针关系,即符号化摘要,供调用图更上层的函数使用,符号化摘要表示为如下集合:

{(rα,sβ)|(rα,sβ)∈PExit,PExit为Exit节点处指向关系,r,s为形参或者全局变量,α和β是两个抽象内存访问后缀}。

6.根据权利要求5所述的针对大规模静态缺陷检测的指针分析方法,其特征在于:所述5.2中,给定当前的指向关系状态,计算特定抽象内存访问表达式的指向集合,可以用如下E函数表示:

E:AbsMemAccessExpr→P→SetAbsMemAccessExpr。

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