[发明专利]一种符合IEC标准的机电类继电器B10 在审
申请号: | 202211601373.5 | 申请日: | 2022-12-13 |
公开(公告)号: | CN115902613A | 公开(公告)日: | 2023-04-04 |
发明(设计)人: | 沈欣慰;徐静;仝大永;张冶;国明 | 申请(专利权)人: | 沈阳铁路信号有限责任公司;通号(西安)轨道交通工业集团有限公司 |
主分类号: | G01R31/327 | 分类号: | G01R31/327;G01R31/00;G06F17/18 |
代理公司: | 沈阳新科知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 21117 | 代理人: | 邹琳 |
地址: | 110025 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 符合 iec 标准 机电类 继电器 base sub 10 | ||
1.一种符合IEC标准的机电类继电器B10值可靠性试验方法,其特征在于,包括如下步骤:
S01:设置试验的环境应力参数要求;
S02:在步骤S01设计的环境应力参数前提下,使用规定数量的继电器试验样本,在相同的负载条件下进行动作循环试验;
S03:获得动作循环试验数据;
S04:依据获得的试验数据估算B10寿命值。
2.根据权利要求1所述的一种符合IEC标准的机电类继电器B10值可靠性试验方法,其特征在于:所述步骤S01中,环境应力参数要求包括试验样本条件、试验环境条件、失效准则要求、测试电路要求。
3.根据权利要求2所述的一种符合IEC标准的机电类继电器B10值可靠性试验方法,其特征在于:所述试验样本条件包括:至少需要10台继电器样本进行试验;在同批次继电器中随机选取试验样本;试验过程中每个接点应连接负载,并对接点状态持续进行监测;试验过程中失效的继电器不再被替换。
4.根据权利要求2所述的一种符合IEC标准的机电类继电器B10值可靠性试验方法,其特征在于:所述试验环境条件中得到的平均失效前循环次数以及使用寿命数据仅适用于当前试验的负载条件,试验环境条件包括:环境温度、气压、相对湿度、线圈和负载的电压/电流、频率、波形、支流中交流分量、交流中直流分量、冲击与振动的标准值及公差范围。
5.根据权利要求2所述的一种符合IEC标准的机电类继电器B10值可靠性试验方法,其特征在于:所述失效准则要求包括:
在试验过程中,继电器存在以下情况时被视为故障:
1)接点不能正常断开;
2)接点不能正常闭合;
3)转换接点的意外桥连;
当故障事件符合以下任一条件时可判定为该试验样本失效:
1)测试中出现首例故障时;
2)同一样本监测到累计6个故障时;
3)同一样本监测到两次连续故障时;
当试验满足以下任一条件时可以结束试验:
1)达到2/3的试验样本已经失效;
2)所有试验样本均已达到107次动作循环;
3)所有试验样本均已失效。
6.根据权利要求1所述的一种符合IEC标准的机电类继电器B10值可靠性试验方法,其特征在于:所述步骤S02中,进行动作循环试验的装置包括与被测继电器相连的接点负载、线圈控制装置、测量和指示装置、控制装置,所述线圈控制装置与线圈激励电源相连,所述接点负载与负载电源相连,所述线圈控制装置用于控制继电器线圈是否给电,测量和指示装置用于对继电器动作次数进行计数及检测和判断接点闭合、断开状态,所述控制装置用于控制试验测试台的开关。
7.根据权利要求1所述的一种符合IEC标准的机电类继电器B10值可靠性试验方法,其特征在于:所述步骤S03中,获得的实验数据包括:测试继电器总数n、不合格样本数r、到第i次失效的时间ti、测试停止总时间T、动作次数。
8.根据权利要求1所述的一种符合IEC标准的机电类继电器B10值可靠性试验方法,其特征在于:所述步骤S04中估算B10寿命值包括如下步骤:
(1)计算威布尔分布形状参数k和威布尔分布尺度参数b:
n个继电器样本进行测试,当测试在时间T停止时,有r项不合格;T等于或大于tr,有r个失效时间:t1,t2,……tr,并且有0<ti≤T(i=1,2,…r);根据式(1)计算出威布尔分布形状参数k的极大似然估计MLE、根据式(2)计算出威布尔分布尺度参数b的极大似然估计MLE,
(2)计算B10值:
根据式(4)计算B10值
其中,B10为总体数目达到10%失效的时间;
(3)计算有效使用寿命,即值的(1-γ)×100%置信下限
1)根据式(5)计算第一代数变量h1
h1=ln[-ln(0.9)] (5)
2)根据式(6)计算第二代数变量δ1
其中:-x=uγ是γ作为参考值在正在正态分布中的γ分位数;
A4,A5,A6通过q值进行计算:
q=r/n
A4=0.49q-0.134+0.622q-1
A5=0.2445(1.78-q)(2.25+q)
A6=0.029-1.083ln(1.325q)
q为删失比、r为不合格继电器总数、n为不试验继电器总数;
3)根据式(7)计算Q1
其中:Q1为计算B10置信下限的系数;
4)根据式(8)计算B10的置信下限
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